wersja mobilna
Online: 594 Czwartek, 2016.12.08

Biznes

Kongres Metrologii w AGH

czwartek, 22 lutego 2007 14:14

Katedra Metrologii Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej organizuję kolejną edycję Kongresu Metrologii. W spotkaniach, które odbędą się pomiędzy 9-13 września 2007 roku udział ma wziąć około 200 uczestników reprezentujących wszystkie ośrodki akademickie, a także wybrane jednostki badawcze i produkcyjne z zakresu metrologii i aparatury naukowej. Swój udział zapowiedziało również kilkunastu gości z zagranicy, a niektórzy z nich przyjęli zaproszenie do wygłoszenia wykładów plenarnych.

Hasłem tegorocznego Kongresu brzmi „Metrologia – narzędziem poznania i drogą rozwoju”. W tematyce Kongresu głównie akcentowane mają być nowe kierunki rozwoju metrologii, nowe narzędzia metrologiczne oraz ich zastosowania. Przewodniczącym komitetu organizującego jest prof. Michał Szyper, a przewodniczącym całego wydarzenia został prof. Janusz Gajda.

 

World News 24h

czwartek, 08 grudnia 2016 10:04

EV Group together with the Korea National NanoFab Center announced preliminary results on improved transparent nanostructured anti-reflective coatings for next-generation displays. The ongoing work has been carried out within a joint-development program established between the two partners in November 2015. This collaborative research has been partly funded by the Nano-Open-Innovation-Lab Project of the NNFC.

więcej na: www.evgroup.com