wersja mobilna
Online: 513 Wtorek, 2017.06.27

Biznes

Kongres Metrologii w AGH

czwartek, 22 lutego 2007 14:14

Katedra Metrologii Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej organizuję kolejną edycję Kongresu Metrologii. W spotkaniach, które odbędą się pomiędzy 9-13 września 2007 roku udział ma wziąć około 200 uczestników reprezentujących wszystkie ośrodki akademickie, a także wybrane jednostki badawcze i produkcyjne z zakresu metrologii i aparatury naukowej. Swój udział zapowiedziało również kilkunastu gości z zagranicy, a niektórzy z nich przyjęli zaproszenie do wygłoszenia wykładów plenarnych.

Hasłem tegorocznego Kongresu brzmi „Metrologia – narzędziem poznania i drogą rozwoju”. W tematyce Kongresu głównie akcentowane mają być nowe kierunki rozwoju metrologii, nowe narzędzia metrologiczne oraz ich zastosowania. Przewodniczącym komitetu organizującego jest prof. Michał Szyper, a przewodniczącym całego wydarzenia został prof. Janusz Gajda.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

World News 24h

poniedziałek, 26 czerwca 2017 20:01

Fujitsu Laboratories Ltd. announced development of a technology to retrieve similar disease cases from a computed tomography database of previously taken images. The technology, jointly developed with Fujitsu R&D Center Co., Ltd., works by retrieving similar cases of abnormal shadows expanding in a three-dimensional manner. Technologies already exist to retrieve similar cases based on CT images for such diseases as early-stage lung cancer, in which abnormal shadows are concentrated in one place.

więcej na: www.fujitsu.com