Nowy transceiver sygnałów wektorowych do testowania systemów RF

Firma National Instruments wprowadziła do swojej oferty transceiver sygnałów wektorowych (VST) drugiej generacji PXIe-5840. Jest on pierwszym urządzeniem pracującym w paśmie 1 GHz, zaprojektowanym z myślą o wyzwaniach pojawiających się podczas projektowania i testowania systemów radiowych.

PXIe-5840 składa się z generator sygnałów wektorowych RF o częstotliwości do 6,5 GHz, analizatora sygnałów wektorowych o częstotliwości do 6,5 GHz, wydajnego układu FPGA oraz równoległych i szeregowych interfejsów cyfrowych - w całości zawarte w pojedynczym, dwuslotowym module typu PXI Express.

Z szerokością pasma na poziomie 1 GHz, najnowszy VST idealnie sprawdzi się podczas testowania urządzeń pracujących w standardzie 802.11ac/ax, urządzeń mobilnych, systemów 5G, układów RFIC oraz prototypowania radarów.

Nowe VST zapewnia dużą dokładność pozwalającą na pomiar wielkości wektora błędu w standardzie 802.11ax na poziomie -50 dB i zapewnia 10-krotnie większą prędkość pomiaru w porównaniu z tradycyjnymi przyrządami dzięki układowi FPGA i wysoce zoptymalizowanemu oprogramowaniu pomiarowemu.

Niewielki rozmiar i wysoka dokładność synchronizacji, pozwalające na stosowanie VST w konfiguracji do 8x8 wejść/wyjść (MIMO) w pojedynczej, 18-slotowej obudowie. Wektorowy transceiver sygnałów jest istotną częścią platformy NI wykorzystywanej przez inżynierów do tworzenia inteligentnych systemów testowania.

Systemy te mają do dyspozycji ponad 600 produktów PXI, które operują zarówno na napięciach stałych, jak i falach milimetrowych (mmWave). Wszystkie wykorzystują szybki interfejs PCI Express 3 generacji oraz dają możliwość synchronizacji z dokładnością poniżej 1 ns ze zintegrowanym wyzwalaniem.

Produktywność użytkowników może być dodatkowo zwiększona dzięki środowiskom LabVIEW, NI TestStand i aktywnej grupie partnerów oraz inżynierów tworzących aplikacje i własność intelektualną w postaci dodatków - wszystko, by w efekcie zredukować koszt testowania, czas dostarczenia na rynek i dać testerom szansę uporania się z dośrubowanymi wymaganiami w przyszłości.