System charakteryzacji półprzewodników 4200-SCS

System charakteryzacji półprzewodników 4200-SCS z funkcją analizy ogniw słonecznych

Nowe biblioteki umożliwiają testowanie charakterystyk I-V i C-V ogniw słonecznych oraz wprowadzają nową technikę testowania DLCP (Drive-Level Capacitance Profiling), niedostępną we wcześniejszej wersji, umożliwiającą uzyskanie informacji o gęstości defektów.

Częstotliwość pracy rozszerzono z dotychczasowego zakresu 1 kHz ? 1 MHz do zakresu 10 kHz ? 10 MHz, co umożliwia obok stosowania techniki DLCP również testowanie paneli LCD i OLED. Istnieje możliwość łatwej adaptacji karty 4200-CVU do obsługi techniki DLCP.

System charakteryzacji półprzewodników 4200-SCS firmy Keithley Instruments doczekał się istotnego uaktualnienia (KTEI v7.2) funkcji sprzętowych i programowych, pozwalającego obecnie na:

• testowanie charakterystyk I-V i C-V ogniw słonecznych,
• testowanie charakterystyk C-V w rozszerzonym zakresie częstotliwości,
• obsługę 9 slotów rozszerzeń.

Opcja KTEI v7.2 jest dostępna nieodpłatnie dla obecnych użytkowników modelu 4200-SCS. Niemniej jednak pobierane są opłaty za kalibrację uaktualnionego modułu 4210-CVU i upgrade systemu 4200-SCS do obsługi 9 przyrządów.