Aplikacja DXF OVERLAY do mikroskopów TAGARNO
Oprogramowanie do mikroskopów TAGARNO TREND oraz PRESTIGE
Aplikacja DXF OVERLAY do mikroskopów TAGARNO
- Oprogramowanie do mikroskopów TAGARNO TREND oraz PRESTIGE
- Aplikacja DXF Overlay umożliwia kontrolę próbki przy użyciu pliku DXF jako obrazu na monitorze. Poprzez proste dodanie pliku i użycie go jako nakładki na próbkę, można łatwo zobaczyć na ekranie jednocześnie próbkę i plik DXF w czasie rzeczywistym