wersja mobilna
Online: 479 Sobota, 2017.01.21

Biznes

NI Automotive Symposium 2010

poniedziałek, 29 listopada 2010 14:09

National Instruments 6 października zorganizował w Katowicach drugą edycję konferencji poświęconej projektowaniu, prototypowaniu oraz testowaniu komponentów samochodowych. Spotkanie przeznaczone było dla kadry inżynieryjnej zajmującej się tworzeniem i testowaniem systemów elektronicznych i mechatronicznych stosowanych w motoryzacji.

NI dostrzega rosnącą rolę elektroniki w pojazdach, szybko postępującą złożoność systemów i aktywnych podzespołów sterujących pojazdami i wspomagających pracę kierowcy. Firma włącza się w ten trend poprzez proponowanie rozwiązań sprzętowych i oprogramowania w ramach zunifikowanej platformy sprzętowej, służącej jednocześnie do projektowania, prototypowania oraz przeprowadzania testów produkcyjnych komponentów samochodowych.

Na konferencji specjaliści firmy przekonywali, że dzięki modułowej architekturze, opartej na najnowszych osiągnięciach techniki komputerowej i pomiarowej, możliwe jest znaczne zredukowanie czasu potrzebnego na wdrożenie produktu. Swoimi doświadczeniami dzieliło się też wielu ekspertów z branży samochodowej, m.in. Bogdan Iwiński z Veritechu, Tomasz Wieczorek z SARW i Marcin Chruściel z CIT Engineering. Tradycyjnie spotkanie sprzyjało również wymianie kontaktów i informacji z koleżankami i kolegami z branży, a także było szansą na zapoznanie się z przygotowanymi przykładowymi rozwiązaniami.

 

World News 24h

piątek, 20 stycznia 2017 20:02

ON Semiconductor has introduced a new touch/proximity sensing solution that combines industry-leading performance, cost-effectiveness and convenience in a single chip. The LC717A30UJ high dynamic range capacitance-to-digital converter uses mutual capacitance to detect changes in capacitance down to femtofarad levels.

więcej na: www.onsemi.com