wersja mobilna
Online: 2243 Czwartek, 2017.06.29

Biznes

Wystawa elektronicznej aparatury pomiarowej Rohde & Schwarz

czwartek, 14 lutego 2013 07:53

Rohde & Schwarz organizuje 13 marca 2013 r. w Katowicach wystawę "Value Instruments by Rohde & Schwarz". Zostaną na niej zaprezentowane wszystkie rodzaje uniwersalnych przyrządów pomiarowych, niezbędnych w badaniach i rozwoju oraz produkcji urządzeń elektronicznych. Możliwe będą również konsultacje z ekspertami w dziedzinie techniki pomiarowej. Wstęp na wystawę jest bezpłatny, organizatorzy wymagają jedynie rejestracji.

Na wystawie będą prezentowane następujące kategorie przyrządów:

  • Elektroniczne laboratoryjne przyrządy pomiarowe ogólnego przeznaczenia.
  • Multimetry, generatory sygnałowe, mierniki RLC, zasilacze, oscyloskopy i inne potrzebne do codziennych zadań pomiarowych w laboratorium B+R bądź w serwisie.
  • Przyrządy i rozwiązania pomiarowe RF.
  • Analizatory widma, analizatory obwodów, mierniki mocy.
  • Wszystko co niezbędne ekspertowi od techniki radiowej.
  • Przyrządy do badań wstępnych kompatybilności elektromagnetycznej EMC.

Podczas wystawy czterech ekspertów z firmy Rohde & Schwarz odpowiadać będzie na pytania i udzielać wskazówek, jak rozwiązywać typowe problemy pomiarowe.

źródło: Rohde & Schwarz

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

World News 24h

czwartek, 29 czerwca 2017 16:02

Western Digital Corp. announced that it has successfully developed its next-generation 3D NAND technology, BiCS4, with 96 layers of vertical storage capability. Sampling to OEM customers is expected to commence in the second half of calendar year 2017 and initial production output is expected in calendar year 2018. BiCS4, which was developed jointly with Western Digital's technology and manufacturing partner Toshiba Corporation, will be initially deployed in a 256-gigabit chip and will subsequently ship in a range of capacities, including a terabit on a single chip.

więcej na: www.businesswire.com