wersja mobilna
Online: 1151 Poniedziałek, 2017.05.29

Biznes

Wystawa elektronicznej aparatury pomiarowej Rohde & Schwarz

czwartek, 14 lutego 2013 07:53

Rohde & Schwarz organizuje 13 marca 2013 r. w Katowicach wystawę "Value Instruments by Rohde & Schwarz". Zostaną na niej zaprezentowane wszystkie rodzaje uniwersalnych przyrządów pomiarowych, niezbędnych w badaniach i rozwoju oraz produkcji urządzeń elektronicznych. Możliwe będą również konsultacje z ekspertami w dziedzinie techniki pomiarowej. Wstęp na wystawę jest bezpłatny, organizatorzy wymagają jedynie rejestracji.

Na wystawie będą prezentowane następujące kategorie przyrządów:

  • Elektroniczne laboratoryjne przyrządy pomiarowe ogólnego przeznaczenia.
  • Multimetry, generatory sygnałowe, mierniki RLC, zasilacze, oscyloskopy i inne potrzebne do codziennych zadań pomiarowych w laboratorium B+R bądź w serwisie.
  • Przyrządy i rozwiązania pomiarowe RF.
  • Analizatory widma, analizatory obwodów, mierniki mocy.
  • Wszystko co niezbędne ekspertowi od techniki radiowej.
  • Przyrządy do badań wstępnych kompatybilności elektromagnetycznej EMC.

Podczas wystawy czterech ekspertów z firmy Rohde & Schwarz odpowiadać będzie na pytania i udzielać wskazówek, jak rozwiązywać typowe problemy pomiarowe.

źródło: Rohde & Schwarz

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

World News 24h

poniedziałek, 29 maja 2017 17:49

Texas Instruments introduced two new device families that help reduce size and weight in motor drive applications. When used together, DRV832x brushless DC gate drivers and CSD88584/99 NexFET Power Blocks require as little as 511 mm², half the board space of competing solutions. The DRV832x BLDC gate drivers feature a smart gate-drive architecture that eliminates up to 24 components traditionally used to set the gate drive current while enabling designers to easily adjust field-effect transistor (FET) switching to optimize power loss and electromagnetic compliance.

więcej na: newscenter.ti.com

Produkty