NI Automated Test Summit 2011 (Wrocław)

Termin: 27 Kwietnia 2011 r.
Miejsce: Wrocław
Informacje dodatkowe:

Firma National Instruments wraz z partnerami pragnie zaprosić Państwa na konferencję NI Automated Test Summit, podczas której będą Państwo mieli szansę zapoznać się z najnowszymi trendami w przemyśle.

Dostarczanie produktów wysokiej jakości dzięki zaawansowanym technikom pomiarowym

W dzisiejszych czasach, wprowadzane na rynek produkty są coraz bardziej skomplikowane i wyposażone w coraz więcej funkcji. Jednocześnie klienci stają się coraz bardziej wymagający, oczekując urządzeo niezawodnych, funkcjonalnych, o niskim zużyciu mocy oraz zdolnych do pracy w niesprzyjających warunkach. Poniższa prezentacja dotyczy przede wszystkim technologii pomiarowych oraz rozwiązao zapewniających wydajnośd, funkcjonalnośd, wytrzymałośd oraz kompletnośd produktu koocowego.

Wykorzystanie układów FPGA w celu sprostania najnowszym wyzwaniom systemów testowych, wymagających generacji sygnałów pobudzających oraz odpowiedzi w czasie rzeczywistym do poprawnej weryfikacji działania produktu (z wykorzystaniem techniki Protocol-Aware Test)

Szybki postęp dzisiejszej technologii skutkuje powstawaniem produktów o coraz większych możliwościach i zwiększonej funkcjonalności. Przykładem może byd komunikacja bezprzewodowa oraz segment audio-wideo. Aby zweryfikowad poprawnośd działania telewizorów High Definition 3D, transponderów wysokich częstotliwości czy gigabitowych sieci Ethernet, systemy testujące muszą byd w stanie wygenerowad odpowiednie pobudzenia oraz odpowiadad na przychodzące sygnały w czasie rzeczywistym. W poniższej prezentacji mowa będzie o wykorzystaniu macierzy FPGA w testach czasu rzeczywistego używających techniki Protocol-Aware Test.

Metody redukcji czasu niezbędnego do opracowania testu i optymalizacji jego przebiegu

W trakcie demonstracji poznają Paostwo metody szybkiego rozwijania systemów automatycznego testowania i walidacji z wykorzystaniem oprogramowania NI TestStand. Omawiane będą także rozwiązania wspierające optymalizację testów, skutkując ostatecznie znacznym ograniczeniem czasu potrzebnego na ich przeprowadzenie (takie jak: testowanie wielu urządzeo jednocześnie czy wykorzystanie przełączników dla pomiarów wielopunktowych).

Ograniczanie czasu niezbędnego do wykonania testów podczas weryfikacji urządzeo audio/wideo, przy wykorzystaniu narzędzi komercyjnych

W prezentacji pokażemy głównie produkty komercyjne, które można wykorzystad do tworzenia elastycznych systemów testujących dla dekoderów STB (set-top–box), odtwarzaczy Blu-ray i DVD, specjalistycznych układów scalonych grupy audio-wideo oraz wyświetlaczy ciekłokrystalicznych.

Przyrządy Wirtualne w najlepszym wydaniu (Jan Šíma, ELCOM, a.s.)

Pokaz zawiera omówienie linii produkcyjnej oraz testowej, zgodnej z doktryną Lean Manufacturing. Korzysta jednocześnie z przyrządów wirtualnych oraz elementów robotyki, systemu analizy dźwięku oraz wibracji SAVAS, zbudowanego na bazie kontrolerów cRIO i zaprojektowanego do pracy na hali produkcyjnej. Dodatkowo stosuje system monitoringu strukturalnego dla urządzeo elektrycznych oraz szybkich systemów logowania danych (HSDL).

Implementacja testera funkcjonalnego - podejście pragmatyczne (Marcin Chruściel, ES International - CIT Engineering)

CIT Engineering zaprezentuje proces rozwoju testera produkcyjnego w aspekcie praktycznym. Zaprezentowane zostaną typowe architektury maszyn FFT oraz dwa studia przypadków, co pozwoli na przedstawienie procesu projektowania z różnych perspektyw: mechanicznej, elektrycznej oraz programowej. W podsumowaniu przedstawione zostaną korzyści wynikające z zastosowania narzędzi programistycznych NI, dedykowanych dla obszaru automatyzacji testów.

LabVIEW w Laboratorium Badao Podwozi Lotniczych Instytutu Lotnictwa (Bogdan Iwioski, Veritech)

Firma Veritech dla Laboratorium Badao Podwozi Lotniczych realizuje wieloetapowe wdrożenie spójnego systemu obsługi stanowisk pomiarowych. W ramach projektu modernizowane są poszczególne stanowiska badawcze. Nowa aparatura pomiarowa firmy National Instruments pozwoli przeprowadzad bardziej precyzyjne i złożone pomiary. Dedykowane oprogramowanie stworzone w środowisku LabVIEW obsługujące stanowiska zapewni bardziej szczegółową kontrolę i powtarzalnośd pomiarów oraz skróci czas potrzebny na ich analizę.

System do równoległych testów urządzeo elektronicznych w procesie produkcji (Łukasz Polberg, Paweł Mroczkowski - SE Bordnetze Polska Sp. z o.o.)

Screening test ma na celu sprawdzenie, czy wyprodukowane urządzenia spełniają wysokie wymagania klienta - zakładana długośd testu (6 godzin) oraz duża ilośd urządzeo do testowania wymusiła budowę systemu sprawdzającego równolegle sześd urządzeo. System ten symuluje pracę środowiska, w którym będzie ono zainstalowane (samochód) w obecności silnych zmian temperatury otoczenia (-40°C ... +80°C). System ten oparto o kontroler PXI i urządzenia SCXI, przy wykorzystaniu oprogramowania LabVIEW i TestStand a także NI Switch Executive oraz stworzono dedykowany interfejs użytkownika.

Więcej informacji: ni.com/poland/automatedtest