Projektowanie systemów testowych nowej generacji przy pomocy przyrządów definiowanych programowo

Termin: 2 czerwca
Miejsce: Warszawa

National Instruments zaprasza na bezpłatne seminarium, na którym zostanie zaprezentowana platforma NI PXI oraz oprzyrządowanie modułowe.

Czterogodzinne seminarium obejmuje:

• Przegląd platform NI PXI, PXI Express, oprzyrządowania modułowego oraz środowiska programowania graficznego LabVIEW.
• Przegląd technik migracji z tradycyjnego oprzyrządowania do oprzyrządowania opartego na oprogramowaniu.
• Prezentacje rozwiązań klientów, które przedstawiają korzyści, jakie liderzy rynku zyskali dzięki wykorzystaniu produktów NI w elastycznych i wysokowydajnych aplikacjach (na przykład aplikacjach wielokanałowych, wymagających ścisłej synchronizacji oraz krótkich czasów testowania).
• Przegląd najnowszych trendów i produktów z dziedziny definiowanych programowo testów i pomiarów, takich jak:

- o strumieniowanie sygnałów,
- o wysokowydajne testowanie równoległe oparte na systemach wielordzeniowych,
- o najnowsza technologia FPGA wykorzystywana w testach – NI FlexRIO,
- o najnowsze produkty i technologie RF wykorzystywane podczas testowania systemów komunikacyjnych, które pomagają zwiększyć wydajność pomiarów nawet 10-krotnie w porównaniu z tradycyjnymi przyrządami.

Więcej informacji: digital.ni.com