NI Connect Fort Worth 2025

National Instruments zaprasza do Fort Worth w Teksasie na konferencję NI Connect. Podczas spotkania w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. można będzie dowiedzieć się, w jaki sposób liderzy branży i eksperci firmy NI wykorzystują podejście do testowania skoncentrowane na oprogramowaniu, by sprostać rosnącej złożoności produktów i utrzymać przewagę konkurencyjną.

Posłuchaj
00:00

Dowiedz się więcej o LabVIEW+, DAQ i integracji AI - zajrzyj w przyszłość testowania! Podczas konferencji NI Connect można będzie wziąć udział w ponad 90 sesjach i zgłębiać tajniki języka Python, LabVIEW, najnowocześniejszej sztucznej inteligencji, integracji uczenia maszynowego i nie tylko.

Konferencja odbędzie się w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. w Fort Worth Convention Center - 1201 Houston Street, Fort Worth, TX 76102.

Źródło: National Instruments

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów