Ok APA - Automatyka Podzespoły Aplikacje Zamów nowe wydanie
Arrow left icon Powrót

Artykuły Produkty
Podzespoły półprzewodnikowe
Regulator impulsowy Cool-Power ZVS z wejściem 48 VDC i wyjściem 12 VDC/18 A
PI3526-00-LGIZ to najnowszy regulator impulsowy stanowiący rozszerzenie rodziny Cool-Power ZVS, pracujący ...
Podzespoły energoelektroniczne
Łatwa w implementacji przetwornica DC-DC Buck-Boost o małych zaburzeniach EMI
Firma Analog Devices wprowadza do sprzedaży nowy typ przetwornicy DC-DC z przełączanymi pojemnościami, ...
Aparatura elektroniczna
Obciążenia elektroniczne DC 350 W/150 V/60 A w cenie od 499 USD
Rigol dodaje do oferty aparatury pomiarowej serię programowalnych obciążeń elektronicznych DC o parametrach ...
Aparatura energetyczna
Czujnik wilgotności do balonów meteorologicznych
HMC03M to specjalizowany czujnik wilgotności z oferty firmy E+E Elektronik, zaprojektowany do zastosowań ...
Urządzenia i wyposażenie produkcji
Zasilacze ze stabilizacją prądu wyjściowego dla systemów ładowania
TDK Lambda wprowadza serię zasilaczy EVS ze stabilizacją prądu przeznaczoną do systemów oświetlenia ...
Podzespoły półprzewodnikowe
2- i 4-gigabitowe pamięci DDR3/DDR3L SDRAM w obudowach FBGA-96
Firma Alliance Memory powiększa ofertę pamięci SDRAM wprowadzając na rynek nowe 2- i 4-gigabitowe ...
Elementy optoelektroniczne
Bezkontaktowy czujnik temperatury MEMS o bardzo dużej czułości i wąskim polu widzenia 26,5°
Firma Omron Electronic Components powiększyła linię bezkontaktowych czujników temperatury MEMS o ...
Podzespoły pasywne
Tranzystory IGBT 1200 V/75 A w nowych obudowach TO-247PLUS
Infineon Technologies powiększa ofertę tranzystorów IGBT o napięciu przebicia 1200 V o dwa nowe modele ...
Firmy / Produkty
Rewolucyjne złącza M12 z przyłączem push-in
Samodzielny montaż złączy czujnikowych typu M12 nigdy nie był łatwiejszy. Dzięki przyłączu push-in ...
Aparatura elektroniczna
Oscyloskop 1 GHz z ekranem dotykowym w cenie 12900 USD
Teledyne LeCroy wprowadza do oferty nowy oscyloskop o paśmie 1 GHz i maksymalnej szybkości próbkowania ...