System charakteryzacji półprzewodników mocy o parametrach do 3000 V/100 A

Firma Keithley rozszerza ofertę aparatury pomiarowej do charakteryzacji elementów półprzewodnikowych dużej mocy, w tym także wykonywanych na podłożach z węgliku krzemu (SiC) i azotku tantalu (GaN). W ramach nowej oferty systemów Parametric Curve Tracer dostarczane są kompletne zestawy pomiarowe obejmujące generatory/mierniki, kable, moduły przyłączeniowe i oprogramowanie. W sumie oferta obejmuje 7 konfiguracji testowych pozwalających na charakteryzację komponentów w zakresie napięć do maksymalnie 3000 V i prądów do 100 A.

Systemy Parametric Curve Tracer mogą być rozbudowywane ekonomicznie w zależności do potrzeb użytkownika. Przykładowo, podstawowy system 2600-PCT-1 (200 V/10 A) może zostać rozbudowany o kolejne moduły SourceMeter Source Measurement Unit (SMU) zwiększające szerokość zakresu pomiarowego do 50 lub 100 A. Przyrządy i akcesoria mogą być stosowane wymiennie między różnymi konfiguracjami, np. do testów kwalifikacyjnych czy pomiaru niezawodności.

Do sterowania procedurami pomiarowymi producent dostarcza oprogramowanie ACS Basic Edition zapewniające pełną charakteryzację badanych elementów półprzewodnikowych. Oferowane są tu dwa tryby pracy: w czasie rzeczywistym, pozwalający na szybkie wyznaczenie parametrów fundamentalnych, takich jak napięcie przebicia oraz pełen tryb parametryczny do precyzyjnego wyznaczania charakterystyk i ekstrakcji parametrów. Opracowany przez Keithley model wyzwalania TSP-Link zapewnia synchronizację do 500 ns między przyrządami współpracującymi w ramach systemu pomiarowego. ACS Basic Edition udostępnia biblioteki funkcji testowych dla poszczególnych typów elementów, w tym tranzystorów MOSFET, IGBT i bipolarnych, triaków i diod.