wersja mobilna
Online: 512 Wtorek, 2017.05.30

Biznes

Microsoft i Foxconn podpisały umowę patentową

poniedziałek, 20 maja 2013 07:42

Microsoft poinformował, że zawarł ważną na cały świat umowę patentową z Hon Hai Precision, znanym na rynku pod nazwą Foxconn - globalnym liderem produkcji EMS. Według Microsoftu umowa obejmuje szeroki wachlarz patentów Microsoftu na urządzenia z systemami operacyjnymi Android i Chrome OS, w tym smartfony, tablety i telewizory. Wcześniej Microsoft zapowiedział pozwy przeciwko dostawcom OEM telefonów, w związku z domniemanym naruszaniem jego ogromnego zbioru własności intelektualnej na oprogramowanie.

Opłaty licencyjne od telefonów bazujących na Androidzie już zgodziły się płacić firmy takie jak HTC, Acer, LG Electronics i Samsung. Motorola Mobility, obecnie oddział Google’a, wybrała inną drogę i zamiast ponosić opłaty aktualnie procesuje się o patenty z Microsoftem.

Założyciel firmy analitycznej Tirias Research Jim McGregor powiedział, że Microsoft zaczyna osiągać sukces, zmuszając firmy produkujące elektronikę użytkową na kontrakt do podpisywania umów licencyjnych w obawie przed procesami sądowymi. - Niestety producenci kontraktowi i firmy ODM znaleźli się w ogniu krzyżowym. Po prostu muszą mieć takie zabezpieczenie prawne, aby uniknąć pozwów - powiedział McGregor. W fabrykach Foxconna, wytwarzającego dla Apple’a iPhone’y i iPady, powstaje ponad 40% światowej elektroniki użytkowej.

 

 

Szukaj w serwisie Semicon

World News 24h

poniedziałek, 29 maja 2017 20:01

NI announced LabVIEW NXG 1.0, the first release of the next generation of LabVIEW engineering system design software. LabVIEW NXG bridges the gap between configuration-based software and custom programming languages with an innovative new approach to measurement automation that empowers domain experts to focus on what matters most - the problem, not the tool. The 1.0 release of LabVIEW NXG helps engineers performing benchtop measurements drastically increase their productivity with new nonprogramming workflows to acquire and iteratively analyze measurement data.

więcej na: www.ni.com

Produkty