Kongres Metrologii w AGH

Katedra Metrologii Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej organizuję kolejną edycję Kongresu Metrologii. W spotkaniach, które odbędą się pomiędzy 9-13 września 2007 roku udział ma wziąć około 200 uczestników reprezentujących wszystkie ośrodki akademickie, a także wybrane jednostki badawcze i produkcyjne z zakresu metrologii i aparatury naukowej. Swój udział zapowiedziało również kilkunastu gości z zagranicy, a niektórzy z nich przyjęli zaproszenie do wygłoszenia wykładów plenarnych.

Hasłem tegorocznego Kongresu brzmi „Metrologia – narzędziem poznania i drogą rozwoju”. W tematyce Kongresu głównie akcentowane mają być nowe kierunki rozwoju metrologii, nowe narzędzia metrologiczne oraz ich zastosowania. Przewodniczącym komitetu organizującego jest prof. Michał Szyper, a przewodniczącym całego wydarzenia został prof. Janusz Gajda.

Posłuchaj
00:00
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Komunikacja
Lantronix i TD SYNNEX poszerzają współpracę – zaawansowane rozwiązania IIoT i infrastruktury sieciowej dostępne w całej Europie
Produkcja elektroniki
DMASS podsumował 2024 rok
Komponenty
DigiKey i SparkFun współpracują w zakresie dostarczania zestawów robotycznych XRP
Pomiary
Nowa seria ultraszybkich digitalizerów GHz od Spectrum Instrumentation
Produkcja elektroniki
Produkcja półprzewodników według lokalizacji
Aktualności
Contrans współpracuje z EPT
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Targi zagraniczne
Międzynarodowa wystawa i warsztaty na temat kompatybilności elektromagnetycznej EMV 2025
Statyczne
Logowanie
Targi krajowe
Warsaw Industry Week 2025 - 9. edycja
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów