Kongres Metrologii w AGH

Katedra Metrologii Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej organizuję kolejną edycję Kongresu Metrologii. W spotkaniach, które odbędą się pomiędzy 9-13 września 2007 roku udział ma wziąć około 200 uczestników reprezentujących wszystkie ośrodki akademickie, a także wybrane jednostki badawcze i produkcyjne z zakresu metrologii i aparatury naukowej. Swój udział zapowiedziało również kilkunastu gości z zagranicy, a niektórzy z nich przyjęli zaproszenie do wygłoszenia wykładów plenarnych.

Hasłem tegorocznego Kongresu brzmi „Metrologia – narzędziem poznania i drogą rozwoju”. W tematyce Kongresu głównie akcentowane mają być nowe kierunki rozwoju metrologii, nowe narzędzia metrologiczne oraz ich zastosowania. Przewodniczącym komitetu organizującego jest prof. Michał Szyper, a przewodniczącym całego wydarzenia został prof. Janusz Gajda.

Posłuchaj
00:00
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Optoelektronika
Automatyczna inspekcja optyczna 3D - pierwszy w Polsce nowy system Viscom
Pomiary
KIOXIA i Linus Media Group ustanawiają światowy rekord w obliczeniach liczby Pi
Produkcja elektroniki
Pierwszy 2-nanometrowy układ firmy MediaTek już we wrześniu
Aktualności
Foxconn i Nvidia zbudują centrum danych AI mające moc 100 MW
Pomiary
Firma Anritsu przejęła w całości Dewetron GmbH
Aktualności
Studenci Politechniki Poznańskiej zbudowali rakietę sondażową. Wsparcia udzieliła Grupa Renex
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Targi zagraniczne
Elmässan Stockholm 2025
Magazyn
Maj 2025
Magazyn
Kwiecień 2025
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów