Kongres Metrologii w AGH

Katedra Metrologii Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej organizuję kolejną edycję Kongresu Metrologii. W spotkaniach, które odbędą się pomiędzy 9-13 września 2007 roku udział ma wziąć około 200 uczestników reprezentujących wszystkie ośrodki akademickie, a także wybrane jednostki badawcze i produkcyjne z zakresu metrologii i aparatury naukowej. Swój udział zapowiedziało również kilkunastu gości z zagranicy, a niektórzy z nich przyjęli zaproszenie do wygłoszenia wykładów plenarnych.

Hasłem tegorocznego Kongresu brzmi „Metrologia – narzędziem poznania i drogą rozwoju”. W tematyce Kongresu głównie akcentowane mają być nowe kierunki rozwoju metrologii, nowe narzędzia metrologiczne oraz ich zastosowania. Przewodniczącym komitetu organizującego jest prof. Michał Szyper, a przewodniczącym całego wydarzenia został prof. Janusz Gajda.

Posłuchaj
00:00
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Zasilanie
Infineon rozszerza ofertę modułów mocy EasyPACK CoolGaN dla aplikacji wysokonapięciowych
Aktualności
Już za tydzień Warsaw Industry Automatica 2025
Aktualności
Nowa wizja transformacji cyfrowej – COCUS i Panasonic
Produkcja elektroniki
Popyt na sprzęt do produkcji wyznacznikiem stanu branży
Zasilanie
Nowy moduł Semikron Danfoss z tranzystorami ROHM 2kV SiC MOSFET zwiększa wydajność systemów solarnych SMA
Projektowanie i badania
IQM zainstaluje pierwszy w Polsce komputer kwantowy
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Kwiecień 2025
Targi zagraniczne
Międzynarodowa wystawa i warsztaty na temat kompatybilności elektromagnetycznej EMV 2025
Statyczne
Logowanie
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów