Kongres Metrologii w AGH

Katedra Metrologii Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej organizuję kolejną edycję Kongresu Metrologii. W spotkaniach, które odbędą się pomiędzy 9-13 września 2007 roku udział ma wziąć około 200 uczestników reprezentujących wszystkie ośrodki akademickie, a także wybrane jednostki badawcze i produkcyjne z zakresu metrologii i aparatury naukowej. Swój udział zapowiedziało również kilkunastu gości z zagranicy, a niektórzy z nich przyjęli zaproszenie do wygłoszenia wykładów plenarnych.

Hasłem tegorocznego Kongresu brzmi „Metrologia – narzędziem poznania i drogą rozwoju”. W tematyce Kongresu głównie akcentowane mają być nowe kierunki rozwoju metrologii, nowe narzędzia metrologiczne oraz ich zastosowania. Przewodniczącym komitetu organizującego jest prof. Michał Szyper, a przewodniczącym całego wydarzenia został prof. Janusz Gajda.

Posłuchaj
00:00
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Komponenty
Mouser Electronics i Ampleon zawierają globalną umowę dystrybucyjną obejmującą rozwiązania zasilania RF
Produkcja elektroniki
TSMC oszacował ceny usług produkcyjnych dla procesu 1,6 nm
Pomiary
Chiny liderem w zakresie samochodowych LiDAR-ów. Rynek gwałtownie rośnie
Aktualności
Upadłość firmy Wolfspeed może przenieść zamówienia SiC do dostawców z Tajwanu
Aktualności
Nowy raport Yole Group: Elektronika mocy na zakręcie – wzrost rynku mimo presji cenowej i zmian geopolitycznych
Aktualności
Większe możliwości personalizacji stanowisk dzięki konfiguratorowi mebli Reeco
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Czerwiec 2025
Targi zagraniczne
Elmässan Stockholm 2025
Magazyn
Maj 2025
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów