Testowanie prototypów pod kątem występowania błędów sprzętowych staje się coraz bardziej skomplikowane. Wynika to ze stopnia zaawansowania budowy oraz postępującej miniaturyzacji urządzeń elektronicznych. Na bazie praktycznych przykładów uczestnicy seminarium zdobędą wiedzę na temat Boundary Scan oraz procedur analitycznych.
W programie seminarium przewidziano:
- Introductory presentation (history/background and outline theory)
- Introduction to the XJTAG tools
- Communicating with JTAG chain (using the Chain debugger)
- Interacting with JTAG devices (using XJAnalyser)
- Introducing board testing with JTAG
- Describing a circuit to enable JTAG testing (using XJDeveloper)
- Running an infrastructure connection test (using XJDeveloper/XJRunner)
- Introducing testing non-JTAG elements of a board using JTAG
- Implementing tests for non-JTAG elements
Uczestnicy proszeni są o zabranie laptopów, do których podłączony zostanie zestaw testowy firmy XJTAG. Chętni będą mogli bezpłatnie wypożyczyć zestaw testowy XJTAG w celu przeprowadzenia dodatkowych testów we własnym zakresie. Zastawy będą wypożyczane na 30 dni.
Uwaga: Uczestnictwo w seminarium jest odpłatne - cena 400 zł netto obejmuje koszt organizacji, materiały seminaryjne oraz certyfikat uczestnictwa.
Organizatorzy zapraszają do obejrzenia krótkiego filmu wprowadzającego.
Rejestracja możliwa jest za pośrednictwem formularza na stronie: www.flowcad.pl/Registration_Seminar.php#
źródło: FlowCAD
