X-Fab odnotowuje straty w III kwartale

Skumulowana wartość sprzedaży od stycznia do września wyniosła 309 mln dolarów, co oznacza poprawę o 5% względem ubiegłego roku. Zysk operacyjny wyniósł 15,9 mln dolarów. Według przedstawicieli X-Fab, słaby III kwartał jest w głównej mierze wynikiem trudnej sytuacji światowej gospodarki. Nie spodziewają się oni poprawy w końcówce roku, w rezultacie wyniki za cały rok fiskalny 2008 będą poniżej początkowych oczekiwań.

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł

Powiązane treści

X-Fab kupił udziały producenta MEMS

Większe obroty X-Fab w pierwszym kwartale

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Produkcja elektroniki

Producenci smartfonów mają problem – niedobór pamięci podnosi stale koszty produkcji

Optoelektronika

Marvell przejmie Lumentum. Wycena sięga 115 mld dolarów

Projektowanie i badania

525 mln euro na rozwój projektowania chipów w Europie

Mikrokontrolery i IoT

Analog Devices sfinalizował przejęcie Alif Semiconductor

Produkcja elektroniki

Infineon uruchomi pierwszą na świecie masową produkcję półprzewodników mocy GaN na podłożach 300 mm

Zasilanie

ME Embedded rozpoczyna współpracę z KOLT Power i rozszerza ofertę rozwiązań zasilających

Zobacz więcej z tagiem: Artykuły

Technika

Nowe rezonatory kwarcowe i anteny Kyocera AVX w ofercie TME

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.