Sesje obejmą bezpośrednią interakcję z prezenterami i ekspertami z Rohde & Schwarz oraz partnerami wydarzenia z firm Würth Elektronik i PE Systems. Zaprezentowane zostaną zastosowania urządzeń oparte na codziennych wyzwaniach, z jakimi mierzą się inżynierowie elektronicy podczas używania oscyloskopów oraz związanego z nimi sprzętu testowego i pomiarowego.
Poruszane tematy obejmą podstawy sondowania i dobór sond, opracowywanie systemów zasilania zawierających półprzewodniki SiC i GaN, pomiary jittera oraz wykorzystanie oscyloskopu do wyszukiwania usterek EMC. Prezentacje będą dostępne do obejrzenia po wydarzeniu.
Aby uzyskać więcej informacji i dokonać rejestracji, należy przejść do strony https://www.rohde-schwarz.com/_255400.html.
Źródło: Rohde & Schwarz
