Nowy sensor obrazu do aparatów X-ray zmniejsza narażenie pacjentów na promieniowanie
ON Semiconductor dodaje do oferty zmodyfikowany sensor obrazu KAF-09001 do aparatów X-Ray, pozwalający obniżyć dawkę promieniowania przyjmowaną przez pacjenta podczas radiografii cyfrowej. Jest to sensor CCD o tych samych parametrach optycznych, co wcześniejszy model KAF-09000 (rozdzielczość 9 megapikseli, średnica piksela 12 µm), ale zawierający stopień wyjściowy mogący pracować w trybie podwyższonej czułości, ułatwiającym pozycjonowanie pacjenta i ograniczenie całkowitej dawki przyjętego przez niego promieniowania rentgenowskiego.
Wyjście KAF-09001 pracuje z maksymalną częstotliwością zegara 20 MHz, zapewniając 10-krotnie przepływność bitową przy pełnej rozdzielczości w stosunku do KAF-09000.
W trybie z binningiem 3 x 3 szybkość podglądu wideo sięga 10 fps. KAF-09001, dostarczany w wersjach Standard i Engineering jest produkowany w obudowie CERDIP-60 ze zintegrowaną płytką chłodzącą CuW.
