Nowe moduły PXI do testowania półprzewodników

Firma National Instruments zaprezentowała 10 nowych modułów PXI znajdujących zastosowanie w systemach testowania przyrządów półprzewodnikowych, zoptymalizowanych pod kątem współpracy ze środowiskiem LabView.

Oferta obejmuje 4 szybkie moduły wejść/wyjść cyfrowych (HSDIO), dwa przełączniki cyfrowe, analizator i generator sygnałów w.cz., moduł SMU (Source Measure Unit) oraz wyspecjalizowane oprogramowanie służące do importowania przebiegów testowych. Zestaw PXI Development Suite umożliwia testowanie urządzeń cyfrowych pracujących z częstotliwością taktowania do 200 MHz.

Ponadto, zapewnia rozdzielczość sygnałów prądowych rzędu 10pA, krótki czas przeprowadzania wielopasmowych pomiarów w.cz., możliwość przełączania sygnałów DC/cyfrowych oraz kompatybilność ze standardami plików WGL (Waveform Generation Language) i IEEE 1450 STIL (Standard Test Interface Language). Szybkie moduły wejść/wyjść cyfrowych HSDIO NI PXIe-654x umożliwiają generację i analizę sygnałów o częstotliwościach do 200 MHz.

Udostępniają funkcje m.in. komunikacji dwukierunkowej, porównywania bitowego w czasie rzeczywistym i generacji opóźnień czasowych dla linii we/wy. Obsługują tryb double data rate (DDR) oraz umożliwiają wybór 22 różnych poziomów napięć, od 1,2 do 3,3V. Umożliwiają komunikację za pomocą sygnałów asymetrycznych i różnicowych LVDS w zakresie częstotliwości do 200 MHz.

Nowy, precyzyjny moduł SMU NI PXI-4132 zapewnia rozdzielczość pomiaru prądu 10pA. Umożliwia on czteroprzewodowy pomiar i zawiera zabezpieczenia wejściowe do ±100V oraz specjalne układy czasowe do zdejmowania charakterystyk półprzewodników. Istnieje możliwość synchronizowania pracy kilku modułów PXI-4132 SMU. Nowe przełączniki cyfrowe NI PXI-2515 i NI PXIe-2515 pozwalają na multipleksowanie precyzyjnych przyrządów DC, współpracujących bezpośrednio z liniami HSDIO podłączonymi do wyprowadzeń testowanego układu.

Ułatwiają one realizację pomiarów parametrycznych i zapewniają integralność szybkich sygnałów cyfrowych. Analizator sygnałów wektorowych PXIe-5663E i generator sygnałów wektorowych PXIe-5673E 6,6 GHz charakteryzują się dużą szybkością pomiarów. Umożliwiają automatyczne pobieranie konfiguracji, co ma znaczenie np. podczas testowania wzmacniaczy i innych podzespołów w.cz., których parametry muszą być określone dla różnych zakresów częstotliwości.