Współczesna produkcja seryjna w branży elektronicznej wymaga technologii kontrolnych, które można w pełni zintegrować z ciągłym przepływem produkcyjnym. Rosnące zapotrzebowanie na elastyczne, szybkie i niezawodne rozwiązania testowe stawia producentów OEM oraz EMS przed koniecznością skracania czasu wprowadzania produktów na rynek przy jednoczesnym zwiększaniu pokrycia testowego. Odpowiedzią na te wyzwania są testery typu Flying Probe z serii APT japońskiej firmy TAKAYA, stanowiące kompletny system inspekcji elektrycznej i optycznej dla nowoczesnych linii montażowych.
Główną zaletą testerów Flying Probe w porównaniu do tradycyjnego testu In-Circuit (ICT) jest całkowity brak konieczności stosowania sztywnych adapterów szpilkowych. Budowa tradycyjnego adaptera igłowego trwa zwykle od jednego do kilku tygodni i wiąże się z wysokimi nakładami finansowymi. W zakładach produkcyjnych o dużej różnorodności typów wyrobów adaptery te stają się istotnym czynnikiem kosztotwórczym w zakresie wykonania, przechowywania i konserwacji. Ponadto w przypadku zmian projektowych lub testowania prototypów modyfikowanie adapterów generuje dodatkowe koszty i opóźnia proces produkcyjny.
W systemach TAKAYA z serii APT pomiar realizowany jest za pomocą szybkiej grupy od 2 do 6 niezależnie poruszających się igieł pomiarowych. Programy testowe generowane są bezpośrednio z danych CAD przy użyciu oprogramowania TAKAYA Merlin Pro, które obsługuje ponad 40 różnych systemów CAD. Umożliwia to ekonomiczne badanie pakietów już od pierwszej wyprodukowanej sztuki, a wszelkie korekty układu płytki są wprowadzane natychmiastowo bez przestojów w produkcji.
Najważniejszymi elementami wpływającymi na powtarzalność i dokładność kontaktowania w testerach Flying Probe są konstrukcja mechaniczna oraz stół XY. Firma TAKAYA, w oparciu o dekady doświadczeń, stosuje stoły XY wykonane z szlifowanego granitu. W przeciwieństwie do rozwiązań podatnych na odkształcenia wraz z upływem lat, granit zapewnia niezmienną stabilność wymiarową oraz precyzję pozycjonowania nawet podczas wieloletniej, ciągłej eksploatacji w trudnych warunkach przemysłowych.
Systemy z serii APT pozwalają na dokładne najeżdżanie i kontaktowanie punktów testowych o średnicy wynoszącej zaledwie 50µm. Pozwala to na znaczne uproszczenie wymagań z zakresu Design for Test (DfT) oraz umożliwia bezpośrednie testowanie gęsto upakowanych pakietów SMD bez dedykowanych punktów pomiarowych. Zastosowany w osiach Z system sterowania Soft Touch gwarantuje delikatne i bezpieczne opuszczanie igieł na badane pady, wykluczając ryzyko uszkodzenia delikatnych struktur przy zachowaniu wysokiej prędkości testu.
Testery TAKAYA z serii APT oferowane są zarówno w wersjach jednostronnych, jak i dwustronnych, co pozwala na optymalne dopasowanie urządzenia do specyfiki zakładu:
Wszystkie modele z serii APT są dostępne w konfiguracji In-Line do pracy w pełnej automatyce. Wyposażenie w system transportowy z automatyczną regulacją szerokości umożliwia ich bezpośrednią integrację w linii montażowej SMT lub pracę w trybie magazyn-magazyn. Automatyczny przepływ materiału wyklucza potrzebę ręcznej obsługi, a wbudowany mechanizm odrzutu pozwala na natychmiastowe usunięcie uszkodzonych płyt z linii przed trafieniem do kolejnych etapów procesu.
Systemy serii APT oferują kompleksowe środowisko pomiarowe, wykraczające poza klasyczny test elektryczny. Zintegrowana kamera realizuje automatyczną inspekcję optyczną (AOI), wykrywając przesunięte, brakujące lub odwrotnie zamontowane elementy. Dodatkowo moduł wizyjny odczytuje kody kreskowe 1D oraz 2D, przypisując wyniki testów do konkretnych numerów seryjnych, co zapewnia pełną identyfikowalność (traceability).
W obszarze pomiarów elektrycznych aparatura dysponuje precyzyjnymi miernikami elementów analogowych i cyfrowych, 4-kwadrantowymi zasilaczami, generatorami sygnałów sinusoidalnych i prostokątnych, licznikami częstotliwości oraz czujnikami LED. Wyposażenie opcjonalne obejmuje system IC-Open Checker, przeznaczony do weryfikacji połączeń w strukturach magistralnych i wykrywania zimnych lutów pod układami QFP, SOP oraz BGA. Otwarte interfejsy komunikacyjne umożliwiają ponadto łatwą integrację z zewnętrznymi urządzeniami, takimi jak moduły Boundary-Scan, programatory In-System Programming (ISP) czy zewnętrzne zasilacze DC w trybie Plug and Play.
Pionierskie rozwiązania marki TAKAYA, która w 1987 roku zaprezentowała pierwszy na świecie tester Flying Probe, przełożyły się na dominującą pozycję na rynku globalnym. Firma zainstalowała dotychczas ponad 2800 systemów na całym świecie, a z jej urządzeń korzysta aż 80% z 20 największych producentów kontraktowych (EMS) na świecie. Wszystkie testery produkowane są w 100% w Japonii z zachowaniem najwyższych reżimów jakościowych.
Systemy z serii APT znajdują szerokie zastosowanie w sektorach wymagających najwyższej niezawodności, takich jak przemysł samochodowy (automotive), lotniczy i kosmiczny, wyroby medyczne, półprzewodniki, infrastruktura telekomunikacyjna, automatyka przemysłowa i zasilanie oraz sprzęt RTV/AGD.
Więcej informacji: https://www.systech-europe.de/products/flying-probe-tester
