Ok APA - Automatyka Podzespoły Aplikacje Zamów nowe wydanie
Arrow left icon Powrót

Komunikacja

Artykuły Produkty
Moduły elektroniczne OEM
Moduł SoC Bluetooth LE do aplikacji IoT, Smart Home i przemysłowych zgodny z Bluetooth 5.3
Infineon Technologies dodaje do oferty nowy moduł SoC Bluetooth LE do aplikacji IoT, Smart Home i przemysłowych. ...
Elementy optoelektroniczne
Miniaturowa kamera o powierzchni 1 mm² i parametrach rejestracji obrazu 320 x 320 / 58 fps
Moduł kamery cyfrowej NanEyeC firmy ams OSRAM został zaprojektowany specjalnie do zastosowań wszędzie ...
Podzespoły półprzewodnikowe
Szerokopasmowe tranzystory LDMOS do zastosowań przemysłowych, naukowych i medycznych
Ampleon powiększa szerokopasmowych tranzystorów LDMOS do zastosowań przemysłowych, naukowych i medycznych ...
Podzespoły półprzewodnikowe
Przełącznik elektroniczny DPDT o paśmie DC...20 GHz i przepustowości 40 Gbps
Firma Menlo Micro poinformowała o rozpoczęciu produkcji masowej swojego drugiego przełącznika szerokopasmowego, ...
Podzespoły półprzewodnikowe
Tranzystory OptiMOS w nowych obudowach PQFN Source-Down o mniejszej rezystancji termicznej
Nowe tranzystory MOSFET OptiMOS firmy Infineon są produkowane w zmodernizowanych obudowach PQFN typu ...
Podzespoły pasywne
Pierwsza na rynku antena do aplikacji energy harvest
Firma E-Peas uzupełnia rodzinę komponentów do systemów pozyskiwania energii ze źródeł zewnętrznych ...
Elementy optoelektroniczne
Najmniejsze na rynku fotoprzekaźniki 4-Form-A w obudowach o wymiarach 6,25 x 2,0 x 1,3 mm
Toshiba Electronics Europe wprowadza do sprzedaży najmniejsze na rynku fotoprzekaźniki 4-Form-A do ...
Laboratoria pomiarowe i badawcze
NPS (Nano Point Scanner) – Skaner Nano Punktowy
NPS to innowacyjny bezkontaktowy konfokalny profilometr 3D mierzący wysokość w czasie rzeczywistym, ...
Laboratoria pomiarowe i badawcze
RX-100 cyfrowy mikroskop 3D
Mikroskop cyfrowy 3D najnowszej generacji do obserwacji i pomiarów
Laboratoria pomiarowe i badawcze
HRX-01 cyfrowy mikroskop 3D
Mikroskop cyfrowy 3D najnowszej generacji do obserwacji i pomiarów