Podstawy LabVIEW - Kontrola urządzeń firm trzecich

National Instruments zaprasza do zapoznania się z NI LabVIEW oraz graficznym podejściem do projektowania systemów podczas serii 12 seminariów online. W pierwszym tygodniu zaprezentowane zostaną podstawowy środowiska LabVIEW oraz metody pokazujące jak z jego pomocą przyspieszyć tworzenie systemów kontrolno-pomiarowych. W drugim tygodniu przedstawione będą techniki programistyczne i sposoby podnoszenia kwalifikacji użytkowników LabVIEW. Ostatni tydzień to prezentacja dodatkowych umiejętności, które należy posiąść, aby stać się ekspertem w graficznym projektowaniu systemów za pomocą LabVIEW.

Seminaria on-line będą prowadzone w języku angielskim. Rozpoczynają się o godz. 11:00 oraz 15:00 czasu środkowoeuropejskiego. W potwierdzeniu rejestracji, które otrzyma każdy uczestnik, będzie podawany czas seminarium obowiązujący w Wielkiej Brytanii (-1 godzina). Wymagana jest oddzielna rejestracja na każde z wybranych seminariów.

Terminarz seminarium "Kontrola urządzeń firm trzecich":

  • czwartek, 01.08.2013 r., godz. 15:00 (CET);
  • piątek, 02.08.2013 r., godz. 11:00 (CET).

Podczas sesji zaprezentowany będzie sposób, w jaki LabVIEW może zostać wykorzystane do komunikacji z urządzeniami firm trzecich i jak może pobrać z nich dane pomiarowe. Pokazane będą techniki pozwalające zminimalizować czas spędzony na niskopoziomowe konfigurowanie sprzętu, umożliwiając programiście skupienie się na wysokopoziomowej funkcjonalności aplikacji.

Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

http://poland.ni.com/seminaria-on-line/labview-webcast

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł
Powiązane treści
Współpraca oprogramowania NI LabVIEW z AWR Visual System Simulator
Zobacz więcej w kategorii: Technika
Komunikacja
Konfiguracja bramek MGate MB3000-G2: tryb Transparent i Agent w praktyce
Produkcja elektroniki
Analiza przyczyn wad montażu SMT i ograniczenia systemów inspekcyjnych
Produkcja elektroniki
Dokumentacja do wyceny montażu PCBA – jak przygotować kompletny pakiet danych?
Produkcja elektroniki
Ochrona antystatyczna fundamentem nowoczesnej produkcji
Komponenty
Niewielka uszczelka, ogromne znaczenie. Jak uszczelnienia FOF decydują o skuteczności ekranowania EMC obudów?
Komponenty
Folie termoprzewodzące elektroizolujące – jak jednocześnie odprowadzać ciepło i izolować elektrycznie?
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Wrzesień 2026
Magazyn
Sierpień 2026
Targi zagraniczne
Electronica 2026 - targi i konferencja producentów elektroniki

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów