Monitorowanie i diagnostyka w procesach produkcji i utrzymania ruchu

21 czerwca 2018

Termin: 23 kwietnia 2009
Miejsce: Wrocław

Tematyka

Monitorowanie produkcji przemysłowej:

CTTV
czujniki, mierniki, liczniki
systemy nadzoru
metody pomiaru jakości

Monitorowanie i nadzór urządzeń przemysłowych:

metody diagnostyki przemysłowej: termowizja i termodetekcja, wibrodetekcja, analiza smarów i olejów, czujniki.

Więcej informacji: seminaria.trademedia.us

Udostępnij

Posłuchaj

00:00

Mikrokontrolery PIC32CM PL10 - wydajność 32-bitowego rdzenia Arm Cortex-M0+ i odporność na zakłócenia w projektach 5 V

Firma Microchip Technology prezentuje nową rodzinę mikrokontrolerów (MCU) PIC32CM PL10, która wprowadza wydajność 32-bitowych rdzeni Arm® Cortex®-M0+ do systemów zasilanych napięciem 5 V. Dzięki zgodności wyprowadzeń z 8-bitowymi rodzinami układów AVR® Dx, nowa seria stanowi doskonałą propozycję dla inżynierów poszukujących łatwej ścieżki migracji z architektury 8-bitowej na 32-bitową, pozbawionej konieczności poważnego przebudowywania układów zasilania na płycie czy uczenia się od nowa obsługi układów peryferyjnych.