Więcej funkcji dzięki aplikacjom do mikroskopów TAGARNO!

Wykorzystaj wszystkie możliwości mikroskopów cyfrowych TAGARNO dzięki dedykowanym aplikacjom.
Posłuchaj
00:00

Wykorzystaj wszystkie możliwości mikroskopów cyfrowych TAGARNO dzięki dedykowanym aplikacjom. 

 

ZNAJDŹ KOMPONENTY PCB W KILKA SEKUND                                                         Aplikacja DXF Overlay umożliwia kontrolę próbki przy użyciu pliku DXF jako obrazu na monitorze. Poprzez proste dodanie pliku i użycie go jako nakładki na próbkę, można łatwo zobaczyć na ekranie jednocześnie próbkę i plik DXF w czasie rzeczywistym. 

PORÓWNUJ KOMPONENTY PCB Z OBRAZEM REFERENCYJNYM                                          
Aplikacja do porównywania obrazów IMAGE COMPARISON umożliwia kontrolę próbki w odniesieniu do obrazu referencyjnego na wiele sposobów bezpośrednio z mikroskopu cyfrowego TAGARNO.

KONTROLUJ ROZMIAR I ODSTĘPY
Aplikacja VERIFICATION LINES umożliwia sprawdzenie jakości obiektów poprzez umieszczenie pionowych i/lub poziomych linii jako warstwy na obrazie obiektu.

PRECYZYJNE POMIARY BEZPOŚREDNIO Z MIKROSKOPU CYFROWEGO
Aplikacja pomiarowa TAGARNO umożliwia wykonywanie precyzyjnych pomiarów bezpośrednio z mikroskopu cyfrowego FHD.

Więcej na sklep.renex.pl

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.