Więcej funkcji dzięki aplikacjom do mikroskopów TAGARNO!

Wykorzystaj wszystkie możliwości mikroskopów cyfrowych TAGARNO dzięki dedykowanym aplikacjom.
Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

Wykorzystaj wszystkie możliwości mikroskopów cyfrowych TAGARNO dzięki dedykowanym aplikacjom. 

 

ZNAJDŹ KOMPONENTY PCB W KILKA SEKUND                                                         Aplikacja DXF Overlay umożliwia kontrolę próbki przy użyciu pliku DXF jako obrazu na monitorze. Poprzez proste dodanie pliku i użycie go jako nakładki na próbkę, można łatwo zobaczyć na ekranie jednocześnie próbkę i plik DXF w czasie rzeczywistym. 

PORÓWNUJ KOMPONENTY PCB Z OBRAZEM REFERENCYJNYM                                          
Aplikacja do porównywania obrazów IMAGE COMPARISON umożliwia kontrolę próbki w odniesieniu do obrazu referencyjnego na wiele sposobów bezpośrednio z mikroskopu cyfrowego TAGARNO.

KONTROLUJ ROZMIAR I ODSTĘPY
Aplikacja VERIFICATION LINES umożliwia sprawdzenie jakości obiektów poprzez umieszczenie pionowych i/lub poziomych linii jako warstwy na obrazie obiektu.

PRECYZYJNE POMIARY BEZPOŚREDNIO Z MIKROSKOPU CYFROWEGO
Aplikacja pomiarowa TAGARNO umożliwia wykonywanie precyzyjnych pomiarów bezpośrednio z mikroskopu cyfrowego FHD.

Więcej na sklep.renex.pl
Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł

Kompatybilność elektromagnetyczna

Historia EMC (electromagnetic compatibility) zaczyna się od potrzeby opanowania problemu: co zrobić, gdy jedno urządzenie zaczyna zakłócać pracę drugiego. Miała swój początek wraz z pojawianiem się coraz większej liczby urządzeń elektrycznych wykonujących bardziej złożone zadania. Początkowo problem ten miał charakter niemal przypadkowy, a przybrał rolę istotnego wyzwania technicznego wymagającego systematycznego podejścia. Aktualnie jest to obowiązkowy punkt w produkcji urządzeń elektrycznych oraz elektronicznych.