Toshiba inwestuje w producenta układów pamięci

Oprócz środków finansowych Violin uzyska dostęp do technologii jak i strategii dostaw Toshiby. Violin oferuje oczekującą na przyznanie patentu nową technologię układów pamięci o nazwie system-level aggregation. Firma twierdzi, że produkowane przez Toshibę pamięci NAND flash uzyskają dzięki nowej technologii stopień zaawansowania, sprawność i niezawodność klasy enterprise.

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł

Powiązane treści

Toshiba zakłada nową firmę półprzewodnikową w Brazylii

Przestój u Toshiby odbije się na dostawach pamięci NAND Flash

Toshiba produkuje pamięć NAND flash w procesie 24nm

Fujitsu i Toshiba łączą biznes telefonów komórkowych

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Komunikacja

Polska technologia dla bezpieczeństwa publicznego - wsparcie Systemu Ostrzegania i Alarmowania PSP

Projektowanie i badania

10 lat TME Edukacja: dekada wspierania edukacji technicznej na świecie

Zasilanie

Targi Energetab – podsumowanie

Komponenty

PPWR zmienia branżę e-commerce w Europie

Produkcja elektroniki

Nowa generacja chipów dla AI. Applied Materials i Intel zacieśniają współpracę

Zasilanie

Infineon sfinalizował przejęcie C2i Semiconductors. Wzmocni rozwiązania zasilania dla centrów danych AI

Zobacz więcej z tagiem: Artykuły

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.