ELFA zmienia nazwę na Elfa Distrelec

Datwyler jest międzynarodową grupą przemysłową z siedzibą w Szwajcarii, skupiającą firmy działające w takich branżach jak: produkcja kabli, elementów gumowych, opakowań medycznych oraz dystrybucja komponentów technicznych.

Formalna nazwa polskiego oddziału pozostaje niezmieniona i brzmi: ELFA Elektronika Sp. z o.o.

Michał Pieniążek

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł

Powiązane treści

Christina Aqvist nowym CEO Distrelec Group

Elfa Distrelec obniża ceny - nawet o 70%

Rozmowa z Marcinem Blancardem, dyrektorem firmy Elfa Distrelec

Elfa Distrelec otwiera zautomatyzowany magazyn dystrybucyjny

Elfa Distrelec Poland ma nowego dyrektora

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Optoelektronika

Semtech inwestuje w moce produkcyjne SiGe firmy Tower Semiconductor

Pomiary

Wielowarstwowy system detekcji dronów Ericsson, Play i Asseco. Technologia ISAC i 5G w ochronie infrastruktury krytycznej

Komponenty

Produkty Stäubli Fluid Connectors w dystrybucji Semicona. Nowy model sprzedaży i szybsze dostawy w Polsce

Produkcja elektroniki

Siemens i Nvidia rozwijają system kontroli PCB oparty na AI

Komunikacja

Satelity potrzebują coraz większej autonomii

Komunikacja

Nokia zwiększa przychody o 10%. Silny wzrost w sektorze AI

Zobacz więcej z tagiem: Artykuły

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.