Zbliża się konferencja NIDays 2014

Tegoroczna, największa, bezpłatna konferencja National Instruments - NIDays 2014 - odbędzie się 29 października. Organizatorzy, jak zwykle, przygotowali ścieżki tematyczne dla inżynierów, naukowców oraz nauczycieli akademickich. Eksperci reprezentujący różne gałęzie przemysłu oraz pracownicy akademiccy przedstawią najciekawsze rozwiązania opracowane przy użyciu narzędzi do graficznego projektowania systemów. Inżynierowie z National Instruments zaprezentują najnowsze technologie z dziedziny pomiarów, zautomatyzowanych testów, wbudowanych systemów kontrolno-pomiarowych oraz aplikacji w.cz.

Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

Podczas konferencji można będzie zapoznać się z produktami NI, aplikacjami użytkowników i najnowszymi trendami. Będzie też okazja do poszerzenia posiadanej wiedzy technicznej poprzez bezpośredni kontakt z inżynierami National Instruments, a także do wymiany doświadczeń z innymi użytkownikami produktów NI.

Odbywać się będą również pokazy z udziałem ekspertów z branży oraz spotkania i konsultacje z wystawcami mającymi doświadczenie w dziedzinach, takich jak pomiary, programowanie, budowa maszyn czy systemy wbudowane. Z kolei w trakcie warsztatów, podczas których udostępnione zostaną najnowsze wersje oprogramowania, uczestnicy będą mieli możliwość przetestowania nowych funkcjonalności i poznania nowych produktów.

Pod koniec konferencji organizatorzy umożliwią bezpłatny udział w egzaminie CLAD - Certified LabVIEW Associate Developer, którego pozytywny rezultat jest potwierdzeniem znajomości środowiska LabVIEW, zrozumienia podstaw programowania i dokumentacji kodu oraz poprawnej interpretacji istniejących aplikacji.

Aby wziąć udział w konferencji NIDays 2014 należy dokonać rejestracji za pośrednictwem strony poland.ni.com/nidays/rejestracja.

źródło: National Instruments

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł
Powiązane treści
W Warszawie odbyły się NIDays 2012
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Zasilanie
Infineon sfinalizował przejęcie C2i Semiconductors. Wzmocni rozwiązania zasilania dla centrów danych AI
Elektromechanika
Więcej zaawansowanych i wytrzymałych rozwiązań połączeniowych - Farnell nawiązuje współpracę z Amphenol Nexus Technologies
Komunikacja
Europa poniesie olbrzymie koszty usuwania chińskiej technologii
Zasilanie
SMA otwiera w Niemczech nową fabrykę gigawatową. Inwestycja za 80 mln euro wzmocni europejski przemysł OZE
Aktualności
Farnell nominuje dr Sarę Ghaemi na stanowisko Regional Sales Director dla regionów Beneluksu i DACH
Produkcja elektroniki
Electro Welle inwestuje blisko 20 mln zł w rozwój zakładu w Marcinkowicach
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Wrzesień 2026
Magazyn
Sierpień 2026
Targi zagraniczne
Electronica 2026 - targi i konferencja producentów elektroniki

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów