Fitech T&T. Tester funkcjonalny ATE wykonany przy użyciu przyrządów wirtualnych

W artykule tym przedstawiono propozycję projektu uniwersalnego systemu testującego ATE dla urządzeń elektronicznych, pozwalającego na testowanie różnych płytek drukowanych PCB przy użyciu różnych procedur testowych.

Posłuchaj
00:00

NT01 jest uniwersalnym systemem testującym, łatwym do konfiguracji i użytkowania. Modułowa budowa zastosowanych podzespołów oraz graficzne oprogramowanie pozwalają tworzyć różne konfiguracje oprzyrządowania testującego oraz różne procedury testów pakietów elektronicznych. Platforma funkcjonalnych testów, zwanych w skrócie FCT (Functional Circuit Test), jest ostatnią linią testów pakietów elektronicznych opuszczających fabrykę. Specyfikacja testów zależy od wymagań jakościowych producenta oraz specyfikacji technicznej każdej testowanej płytki PCB.

Tester funkcjonalny ATE został wykonany przez firmę Fitech T&T dostarczającą oprzyrządowanie dla automatycznych testów funkcjonalnych i ICT (In Circuit Test). Potrafi współpracować z pięcioma różnymi typami płytek PCB. Dla każdej z nich został zaprojektowany i wykonany specjalny adapter pełniący funkcję interfejsu pomiędzy płytką i testerem.

Ogólna specyfikacja płytek PCB dla przeprowadzanych testów funkcjonalnych

Każdy produkt musi być przetestowany według specjalnej procedury dostarczonej przez producenta, obejmującej pomiar kilkuset wartości napięć i prądów. Dokładne wymogi testowe przedstawia tabela 1.

Powody wyboru platformy developerskiej NI

Obok ceny, wydajności, elastyczności i modułowości wybrana platforma znacząco ułatwia spełnienie wymagań klientów odnośnie do możliwości przeprowadzenia różnych testów na jednym systemie. System NT01 został zbudowany przy użyciu platformy NI PXI. Wybrano do tego następujące urządzenia:

  • cyfrowy multimetr PXI-4070 FlexDMM ze względu na szybkość pomiaru, dokładność i funkcjonalność,
  • szybką macierz przekaźników PXI-2532 o 512 punktach (100VDC/100Vp/0,5A), którą można zsynchronizować z innymi urządzeniami,
  • wielofunkcyjny, izolowany i szybki moduł akwizycji danych PXI-6230,
  • kartę 100 niezależnych przekaźników średniej mocy PXI-2569,
  • kartę 48 wejść/wyjść cyfrowych PXI-6528 przełączającą napięcia do ±60V i prądy do 150mA,
  • zasilacz PXI-4130 idealny dla aplikacji testujących wymagających programowanych źródeł oraz wykonywania dokładnych pomiarów,
  • interfejs PCI-GPIB.

Jako środowisko programowe wybrano LabVIEW i TestStand Development System. Oba pakiety są łatwe w obsłudze i konfiguracji oraz bardzo funkcjonalne. Są to ważne cechy, pomagające zredukować czas tworzenia oprogramowania.

Implementacja testera NT01

System NT01 zastępuje pięć różnych testerów, ponieważ używa pięciu różnych adapterów dla różnych płytek PCB. Komunikacja z każdą z nich została zaimplementowana w LabVIEW. Stworzono specjalne moduły obsługujące komunikację przez złącze szeregowe RS. Wszystkie sesje do urządzeń są otwierane przed rozpoczęciem testów i pozostają otwarte przez cały czas ich trwania. Po zakończeniu procedury zamykane są wszystkie sesje do urządzeń.

Ten prosty pomysł dał oszczędność czasu, który musiałby być poświęcony na dodatkową komunikację z kartami sprzętowymi. Zbudowano specjalny przyrząd wirtualny (VI) do równoczesnego sterowania kartami PXI-2532, PXI-2569 i PXI-4070. Ma on za zadanie załączenie odpowiedniego przekaźnika, dokonanie odpowiedniego pomiaru, np. napięcia i rozłączenie przekaźnika. To rozwiązanie zajmuje tylko jedną linię z poziomu sekwencji w TestStand, dzięki czemu użytkowanie kart jest przyjazne, a procedura przejrzysta.

Podsumowanie

Główna zaletą opisanego testera FCT jest duża wydajność i elastyczność przy niskim koszcie.

Podczas budowy testera funkcjonalnego ATE zaoszczędzono sporo środków i czasu, ponieważ używając LabVIEW i TestStand do zaimplementowania procedur testowych, wystarczyło jedynie sześć tygodni. Koszty sprzętu i podzespołów stanowią tylko 40% kosztów projektu. Sumarycznie zredukowano czas testu o 47,6% (tabela 2).

Sebastian Franek

Zobacz więcej w kategorii: Prezentacje firmowe
Mikrokontrolery i IoT
Bezpieczny rozwój i produkcja systemów wbudowanych w obliczu niepewności geopolitycznej
Zasilanie
Wymiana baterii w hybrydzie po 100 tys. km – ile kosztuje i kiedy spada wydajność?
Projektowanie i badania
Ukryte koszty poprawek. Dlaczego naprawa projektu zawsze kosztuje więcej niż dobre planowanie - czyli im później wykryjesz błąd, tym drożej go naprawisz
Produkcja elektroniki
Koń trojański w układzie scalonym: Dlaczego europejski sektor zbrojeniowy musi uniezależnić się od chińskiej elektroniki
Optoelektronika
Przyszłość wyświetlaczy TFT z podświetleniem mini LED
Elektromechanika
Nauka w praktyce: Joy-Car Calliope od Joy-iT wzbogaca edukacyjną ofertę Conrad
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Listopad 2025
Informacje z firm
Grupa RENEX zaprasza na targi Evertiq EXPO Warszawa 2025
Magazyn
Październik 2025

Ukryte koszty poprawek. Dlaczego naprawa projektu zawsze kosztuje więcej niż dobre planowanie - czyli im później wykryjesz błąd, tym drożej go naprawisz

Większość projektów elektronicznych nie upada dlatego, że zabrakło budżetu na komponenty — lecz dlatego, że zbyt późno wykryto błędy projektowe. To one, a nie same materiały, generują największe koszty: dodatkowe prototypy, opóźnienia, ponowne testy, a często nawet przebudowę całych urządzeń.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów