Mikroskop sił atomowych nowej generacji

Firma Agilent Technologies zapowiedziała wprowadzenie do oferty nowego mikroskopu sił atomowych (AFM) oznaczonego symbolem 7500 - zaawansowanego urządzenia o poprawionych parametrach, zwiększonej funkcjonalności i łatwej obsłudze, przeznaczonego do charakteryzacji materiałów i przeprowadzania pomiarów w nanoskali. Skaner z zamkniętą pętlą sprzężenia zastosowany w tym modelu zapewnia rozdzielczość obrazowania wynoszącą 90 µm.

Agilent 7500 stanowi platformę nowej generacji pozwalającą przesunąć dotychczasowe granice mikroskopii sił atomowych w zastosowaniach naukowych i przemysłowych dzięki zwiększeniu rozdzielczości obrazowania i zapewnieniu nieosiągalnej wcześniej kontroli temperatury i innych parametrów środowiskowych. Nowy AFM 7500 nadaje się idealnie do przyszłych zastosowań z zakresu materiałoznawstwa, nauk przyrodniczych, chemii polimerów, elektrochemii, charakteryzacji elektrycznej i nanolitografii.

Mikroskop 7500 zawiera zintegrowaną komorę środowiskową, zapewniającą łatwy dostęp do uszczelnionego zasobnika próbek, całkowicie odizolowanego od reszty systemu. Wbudowane w komorę czujniki realizują stałą kontrolę wilgotności i temperatury. Użytkownik ma możliwość łatwego wpompowania do wewnątrz komory tlenu i gazów reakcyjnych oraz ich usunięcia. Opcjonalny kontroler temperatury badanej próbki dla modelu 7500 zapewnia precyzyjną kontrolę w zakresie od -30°C do +250°C oraz dużą rozdzielczość, wystarczającą do przeprowadzania pomiarów eksperymentalnych.

Standardowa stożkowa głowica pomiarowa pozwala na pracę AFM w kilku różnych trybach obrazowania. W razie potrzeby rozszerzenia możliwości pomiarowych może ona zostać łatwo wymieniona na głowicę specjalizowaną. Model 7500 może być stosowany w zaawansowanych aplikacjach obrazowania i elektrochemicznych. Jednoprzebiegową charakteryzację elektryczną w nanoskali osiągnięto dzięki wykorzystaniu opracowanego przez Agilent kontrolera MAC Mode III.