Sonda wysokonapięciowa o paśmie 1 GHz do precyzyjnej charakteryzacji podzespołów GaN i SiC

Kategoria produktu: Systemy pomiarowe Pomiary

Teledyne LeCroy wprowadza do sprzedaży nową sondę wysokonapięciową DL-ISO o paśmie do 1 GHz z izolacją optyczną oraz nowe oprogramowanie pomiarowe Power-Device, zapewniające w zestawieniu z 12-bitowymi oscyloskopami HDO precyzyjną charakteryzację tranzystorów mocy z azotku galu (GaN) i węglika krzemu (SiC) o dużej szerokości pasma zabronionego.

Choć producenci już od ponad 30 lat stosują tranzystory MOSFET i IGBT w systemach konwersji mocy, konsumenci stale oczekują coraz mniejszych i lżejszych zasilaczy, a rządy wprowadzają coraz ostrzejsze kryteria w zakresie sprawności energetycznej. Materiały półprzewodnikowe o dużej szerokości pasma zabronionego (WBG), takie jak GaN i SiC, umożliwiają ponad 10-krotnie szybsze przełączanie tranzystorów w porównaniu z tradycyjnymi tranzystorami krzemowymi, a dodatkowo pozwalają zmniejszyć rozmiary i masę podzespołów oraz zwiększyć sprawność energetyczną. Wielu projektantów, zwłaszcza mających po raz pierwszy do czynienia z półprzewodnikami WBG, potrzebuje obecnie szybszych narzędzi pomiarowych do dokładniejszej i bardziej szczegółowej analizy podzespołów.

Nowa sonda wysokonapięciowa DL-ISO z izolacją optyczną produkcji Teledyne LeCroy pozwala uzyskać dokładność pomiaru 1,5% przy współpracy z 12-bitowymi oscyloskopami HDO, dwukrotnie większą niż w przypadku najlepszych obecnie sond konkurencyjnych. Pasmo do 1 GHz umożliwia współpracę z tranzystorami GaN o czasie narastania sygnału 1 ns. Oscyloskopy HDO produkcji Teledyne LeCroy oferują szybkość próbkowania do 20 GSps przy 12-bitowej rozdzielczości, co zapewnia najwierniejsze rejestrowanie i wyświetlanie szybkich sygnałów z tranzystorów GaN i SiC.

Nowy pakiet oprogramowania Power-Device dostarczany przez Teledyne LeCroy dodatkowo upraszcza analizę parametrów tranzystorów GaN i SiC dzięki zautomatyzowanym pomiarom m.in. strat przełączania oraz nakładkom kodowanym kolorami, zapewniającym wyróżnienie konkretnych obszarów mierzonych. Sondy DL-ISO są dostarczane w wersjach o szerokości pasma 350 MHz, 700 MHz i 1 GHz.

Zapytania ofertowe
Sonda wysokonapięciowa o paśmie 1 GHz do precyzyjnej charakteryzacji podzespołów GaN i SiC
Zapytanie ofertowe