Zunifikowany system analizy DC i w.cz. struktur półprzewodnikowych

Firmy Agilent Technologies i Cascade Microtech zawiązały strategiczny sojusz w zakresie produkcji w pełni skonfigurowanych i zatwierdzonych systemów pomiarowych w.cz. do analizy struktur półprzewodnikowych z gwarantowaną konfiguracją, instalacją i wsparciem technicznym. Dzięki Wafer-level measurement solutions (WMS) - systemowi opracowanemu wspólnie przez firmy Agilent i Cascade Microtech - użytkownicy zyskują możliwość przeprowadzania dokładnych i powtarzalnych pomiarów, charakteryzacji podzespołów i ich modelowania, a wszystko to bez konieczności prowadzenia czasochłonnej konfiguracji i weryfikacji systemu.

- Procesy produkcji elementów półprzewodnikowych oraz ich modelowania i charakteryzacji ewoluują, czasy wprowadzania produktów na rynek wciąż się skracają, a wymogi odnośnie dokładności pomiarów rosną - mówi Michael Burger, prezes Cascade Microtech. - Dzięki nawiązanej z firmą Agilent współpracy przy opracowywaniu systemów do analizy struktur półprzewodnikowych, możemy obecnie zaoferować inżynierom narzędzia niezbędne do dokładnej i szybkiej charakteryzacji stałoprądowej i w.cz. komponentów, pozwalające skrócić czas wprowadzania produktów na rynek.

W skład nowego systemu pomiarowego wchodzą produkowane przez Cascade Microtech stacje pomiarowe, sondy i narzędzia kalibracyjne oraz dostarczane przez Agilent oprogramowanie pomiarowo-analityczne. Każda z konfiguracji jest wstępnie zatwierdzana pod względem zgodności ze specyficznymi wymogami aplikacji użytkownika, a następnie zostaje zatwierdzona ponownie pod kątem uzgodnionych wcześniej kryteriów - po instalacji przeprowadzonej przez ekspertów Cascade Microtech. Wspomniany wcześniej termin \"gwarantowana konfiguracja\" oznacza, że dowolna brakująca część w skonfigurowanym systemie zostanie dostarczona nieodpłatnie przez Agilent lub Cascade Microtech.

Firmy Agilent i Cascade Microtech współpracują również dostarczając unikalne oprogramowanie do projektowania procedur testowych, bazujące na oprogramowaniu pomiarowym WaferPro-XP firmy Agilent. W połączeniu z dostarczanym przez Cascade Microtech oprogramowaniem stacji pomiarowych Velox, pozwala ono użytkownikom na opracowywanie kompletnych pakietów dla poszczególnych zadań pomiarowych (np. pomiaru parametrów macierzy rozproszenia, DC-IV/CV, współczynnika szumów, szumów migotania czy kompresji wzmocnienia). Ta kombinacja oprogramowania dostarcza spójne środowisko do opracowywania testów.

Każdy z dostarczanych systemów jest objęty pełnym pakietem wsparcia, zapewniającym kontakt z lokalnymi ekspertami specjalizującymi się w zakresie testowania i pomiaru parametrów struktur półprzewodnikowych. Cascade Microtech pełni tu rolę punktu kontaktowego zapewniającego szybkie rozwiązanie problemu.

Cena i dostępność
Dostarczane przez Agilent i Cascade Microtech systemy do analizy w.cz. struktur półprzewodnikowych są obecnie dostępne w różnych konfiguracjach, począwszy od w pełni zintegrowanych systemów z półautomatyczną lub ręczną sondą, po specjalizowane aktualizacje sprzętowe dla konkretnych aplikacji, stanowiące upgrade do istniejących stacji testowych. Nowe oprogramowanie pomiarowe WaferPro-XP firmy Agilent do charakteryzacji komponentów w działach badawczo-rozwojowych również może być dodane do istniejących systemów pomiarowych. Cena zależy od konkretnej konfiguracji. Szczegółowych informacji o cenach i zasadach sprzedaży udzielają lokalni przedstawiciele Agilent i Cascade Microtech.

Więcej danych dotyczących nowego systemu Agilent i Cascade Microtech do analizy struktur półprzewodnikowych można znaleźć pod adresami www.agilent.com/find/wms i www.cascademicrotech.com/measureone. Informacje uzupełniające dotyczące tego typu systemów są dostępne pod adresem www.agilent.com/find/wms_backgrounder.