Wireless Test System do szybkich testów urządzeń komunikacyjnych w paśmie 65 MHz...5 GHz

National Instruments posiada w ofercie zintegrowany system pomiarowy WTS (Wireless Test System) pozwalający obniżyć koszty testowania urządzeń do bezprzewodowej transmisji danych przy produkcji wielkoseryjnej, w tym telefonów komórkowych, tabletów, kart i modułów. WTS zapewnia dużą szybkość prowadzenia pomiarów i elastyczność konfiguracji.

Obsługuje wiele standardów komunikacji bezprzewodowej oraz pozwala prowadzić testy wieloportowe na kilku urządzeniach DUT równocześnie, przy wykorzystaniu oprogramowania TestStand lub LabView. Zapewnia łatwą integrację na liniach produkcyjnych dzięki dostarczanym przez producenta gotowym sekwencjom testowym opracowanym dla urządzeń korzystających z chipsetów produkcji m.in. Qualcomm i Broadcom.

WTS to najnowszy system pomiarowy firmy National Instruments zbudowany na bazie platformy sprzętowej PXI, mogący być programowany z wykorzystaniem oprogramowania LabView i TestStand. Rok wcześniej w ofercie firmy pojawił się podobny system dla linii do produkcji półprzewodników (Semiconductor Test System). WTS akceptuje sygnały wejściowe o częstotliwości z zakresu od 65 MHz do 5 GHz. Zapewnia szerokość pasma pomiarowego do 200 MHz. Zawiera interfejsy USB oraz Ethernet z obsługą komend SCPI. Jest kompatybilny z następującymi standardami transmisji bezprzewodowej:

• Wi-Fi 802.11a/b/g/n/ac,
• Bluetooth i Bluetooth LE,
• GPS,
• FM/RDS,
• LTE-A/LTE/HSPA+/WCDMA/TD-CDMA/CDMA2000/EDGE/GSM.