We Wrocławiu utworzono Dolnośląski Klaster Nanotechnologii

Dolnośląski klaster będzie współpracował nie tylko z partnerami z regionu, ale również z uruchomionym w 2013 r. w Katowicach Śląskim Klastrem NANO. - Śląski klaster NANO odniósł duży sukces, dlatego skorzystamy z jego doświadczeń. Liczymy, że uda się połączyć efekty pracy specjalistów z obu regionów - mówiła Klaudia Piątek, rzecznik wrocławskiego Centrum Badań EIT+.0

źródło: naukawpolsce.pap.pl

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł

Powiązane treści

Klastry napędem polskiej gospodarki

Ponad 30 firm wzięło udział w II spotkaniu Śląskiego Klastra NANO

W Katowicach utworzono Śląski Klaster NANO

Unijne dofinansowanie dla firm działających w klastrach

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Zasilanie

Unia Europejska zaostrza przepisy w kwestii baterii

Zasilanie

Flex przejął EPC Power. Wzmacnia ofertę zasilania dla centrów danych AI

Komunikacja

Orbitalne centra danych przestają być konceptem rodem z sci-fi

Projektowanie i badania

Infineon i ZuriQ rozwijają współpracę nad skalowalnymi procesorami kwantowymi

Komunikacja

Cisco otworzyło w Krakowie laboratorium sieci dla AI. Niemal 400 szaf serwerowych i 4 MW mocy IT

Zasilanie

Agrowoltaika jako odpowiedź na rosnące problemy energetyczne

Zobacz więcej z tagiem: Artykuły

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.