NI Connect Fort Worth 2025

Dowiedz się więcej o LabVIEW+, DAQ i integracji AI - zajrzyj w przyszłość testowania! Podczas konferencji NI Connect można będzie wziąć udział w ponad 90 sesjach i zgłębiać tajniki języka Python, LabVIEW, najnowocześniejszej sztucznej inteligencji, integracji uczenia maszynowego i nie tylko.

Konferencja odbędzie się w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. w Fort Worth Convention Center - 1201 Houston Street, Fort Worth, TX 76102.

Źródło: National Instruments

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Pomiary

Certyfikowane urządzenia medyczne zmieniają rynek gadżetów fitness

Produkcja elektroniki

Chiny rozszerzają ograniczenia eksportowe na metale ziem rzadkich

Zasilanie

Infineon i SolarEdge rozwijają platformę transformatorów półprzewodnikowych dla centrów danych AI

PCB

Eurocircuits startuje z konkurencyjną ofertą płytek HDI

Mikrokontrolery i IoT

Ceva i Microchip wspólnie napędzają rozwój sztucznej inteligencji w urządzeniach brzegowych

Produkcja elektroniki

Chińska branża MEMS w silnym trendzie wzrostowym

Zobacz więcej z tagiem: Pomiary

Gospodarka

Certyfikowane urządzenia medyczne zmieniają rynek gadżetów fitness

Technika

Dlaczego w testach elektrycznych stosowane są 4-żyłowe połączenia Kelvina?

Gospodarka

RFID 2026-2036: prognozy, gracze i możliwości

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.