NI Connect Fort Worth 2025

Dowiedz się więcej o LabVIEW+, DAQ i integracji AI - zajrzyj w przyszłość testowania! Podczas konferencji NI Connect można będzie wziąć udział w ponad 90 sesjach i zgłębiać tajniki języka Python, LabVIEW, najnowocześniejszej sztucznej inteligencji, integracji uczenia maszynowego i nie tylko.

Konferencja odbędzie się w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. w Fort Worth Convention Center - 1201 Houston Street, Fort Worth, TX 76102.

Źródło: National Instruments

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Aktualności

Przez sztuczną inteligencję silnie rośnie skala cyberataków w chmurze

Komponenty

Dell i NVIDIA fundamentem największej fabryki AI w Indiach: 4000 GPU Blackwell dla NxtGen

Produkcja elektroniki

Yamaha Robotics stawia na półprzewodniki. Nowa struktura wzmocni obsługę procesów back-end w Europie

Projektowanie i badania

Mitsubishi Electric i MHI inwestują w następcę modułu ISS. Nowa era komercjalizacji orbity LEO

Produkcja elektroniki

Afrykańskie minerały w centrum uwagi

PCB

Standard oHFM: Nowe perspektywy dla modułów FPGA w systemach embedded

Zobacz więcej z tagiem: Pomiary

Targi krajowe

Targi Przemysłowej Techniki Pomiarowej CONTROL-STOM

Prezentacje firmowe

Wysokoprecyzyjne cęgi do pomiaru prądu stałego marki Voltcraft

Gospodarka

Rohde & Schwarz dostarczy zaawansowane skanery bezpieczeństwa na lotniska przed Mundialem 2026

Kiedy projekt elektroniki jest „wystarczająco dobry”, a kiedy staje się ryzykiem biznesowym

W projektowaniu elektroniki bardzo łatwo wpaść w pułapkę myślenia: „działa, więc jest OK”. Układ się uruchamia, firmware odpowiada, prototyp przechodzi testy na biurku. I na tym etapie wiele zespołów uznaje projekt za „wystarczająco dobry”. O decyzjach „good enough”, presji czasu i momentach, w których inżynieria zaczyna generować straty.