NI Connect Fort Worth 2025

Dowiedz się więcej o LabVIEW+, DAQ i integracji AI - zajrzyj w przyszłość testowania! Podczas konferencji NI Connect można będzie wziąć udział w ponad 90 sesjach i zgłębiać tajniki języka Python, LabVIEW, najnowocześniejszej sztucznej inteligencji, integracji uczenia maszynowego i nie tylko.

Konferencja odbędzie się w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. w Fort Worth Convention Center - 1201 Houston Street, Fort Worth, TX 76102.

Źródło: National Instruments

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Projektowanie i badania

Komputery kwantowe to wciąż odległa przyszłość - ale coraz bardziej konieczna

Projektowanie i badania

Nowy zasób online dla płytek i zestawów ewaluacyjnych do systemów wbudowanych oraz narzędzi

Produkcja elektroniki

Zintegrowane rozwiązania SMT Panasonica

Komponenty

80% przychodów z sektora B2B - rozwój dzięki konsekwentnemu ukierunkowaniu na klienta

Optoelektronika

AI z prędkością światła staje się faktem - fotonika otwiera drogę do sprzętu nowej generacji

Produkcja elektroniki

Coraz większy udział materiałów polimerowych w zaawansowanym pakowaniu chipów

Zobacz więcej z tagiem: Pomiary

Gospodarka

Certyfikowane urządzenia medyczne zmieniają rynek gadżetów fitness

Technika

Dlaczego w testach elektrycznych stosowane są 4-żyłowe połączenia Kelvina?

Gospodarka

RFID 2026-2036: prognozy, gracze i możliwości

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.