System testowy APT-9600CE
ITOCHU SysTech Sp. z o.o. Oddział w Polsce
System testowy typu „Flying Probe” (6 igłowy)
Tester APT-9600CE posiada 4 ruchome sondy nad płytką PCB i 2 pod spodem. APT-9600CE oferuje wiekszą elastyczność pomiaru i możliwości testowych oraz zmniejsza czas testu. System „Flying Probe” pozwala nie tylko na pomiar wartości elektrycznych z obu stron płytki PCB, ale również jako opcja może być wyposażony w 2 czujniki służące do pomiaru układów scalonych (IC Open Test). APT-9600CE posiada dwa zintegrowane systemy wizyjne, które umożliwiają odnajdywanie punktów charakterystycznych jednocześnie po obu stronach płytki. Nowe funkcje oprogramowania, narzędzia debugujące i pomoc w usuwaniu usterek to kolejne właściwości tego systemu.
- testy funkcyjne (pomiar tranzystorów, diody Zenera...)
- testy elementów cyfrowych
- programowalne źródła zasilania
- rozpoznanie kodów kreskowych z wykorzystaniem kamery
- zaawansowany wizualny system testowy
- współpraca z zewnętrznymi urządzeniami pomiarowymi
- pomiar wzmocnienia
- możliwość pracy w linii produkcyjnej (SMEMA)
- testowanie układów scalonych („Open Pin checker”)
- programowanie układów Flash/EEPROM
- testowanie układów scalonych obsługujących JTAG i połączeń między układami (tzw. boundary scan)
- pełna kompatybilność programów testowych ze wszystkimi systemami APT
- możliwość wyzwalania elementów wymagających zasilania (przekaźniki, styczniki...)
Zdobądź przewagę nad konkurencją używając systemów \"Flying Probe\" najnowszej generacji
Wydajność ekonomiczna i znakomite możliwości testowe stoją u podstaw APT 9600CE. Seria APT-9600 oferuje zwiększoną wydajność wymagając jednocześnie minimalnej ilości miejsca, co oszczędza przestrzeń produkcyjną. Podczas standardowej pracy nie wymaga podłączenia dodatkowego sprężonego powietrza. Wszystkie te cechy połączone z doskonałym wykonaniem pozwalają na osiągnięcie najniższych kosztów posiadania APT-9600CE. Precyzyjny system kontroli zapewnia bardzo ciche działanie, ktore pozwala na pracę niemal w każdych warunkach i miejscu.