50-megapikselowy czujnik obrazu CCD do inspekcji wyświetlaczy

Do oferty ON Semiconductor wchodzi nowy 50-megapikselowy czujnik CCD o symbolu KAI-50140, zaprojekowany do inspekcji wyświetlaczy i płytek drukowanych oraz do fotografii lotniczej. Charakteryzuje się on rozdzielczością 10440 (H) x 4800 (V) pikseli, największą wśród dostępnych obecnie na rynku wyświetlaczy CCD oraz jednolitymi parametrami całej powierzchni matrycy.

Współczynnik proporcji, wynoszący 2,18:1 odpowiada proporcjom wyświetlaczy nowoczesnych smartfonów, co ogranicza liczbę zdjęć potrzebnych do zobrazowania całej matrycy. KAI-50140 jest czujnikiem typu global shutter. Zapewnia szybkość rejestracji do 4 fps.

Jest zamykany w ceramicznej obudowie PGA-72 w wersji monochromatycznej i kolorowej o rozkładzie wyprowadzeń kompatybilnym z wcześniejszymi wersjami KAI-29050, KAI-29052 i KAI-43140. Rozpoczęcie produkcji masowej przewidziano na koniec 2018 roku.

Pozostałe parametry:

• rozmiary piksela: 4,5 x 4,5 µm,
• powierzchnia aktywna: 46,98 x 21,60 mm,
• czułość: 42 mV/e−,
• sprawność kwantowa:
  • wersja monochromatyczna: 45%,
  • wersja kolorowa (R, G, B): 27%, 34%, 37%,
• zakres dynamiczny: 66 dB.