Podstawy LabVIEW - Wprowadzenie do akwizycji danych

National Instruments zaprasza do zapoznania się z NI LabVIEW oraz graficznym podejściem do projektowania systemów podczas serii 12 seminariów online. W pierwszym tygodniu zaprezentowane zostaną podstawowy środowiska LabVIEW oraz metody pokazujące jak z jego pomocą przyspieszyć tworzenie systemów kontrolno-pomiarowych. W drugim tygodniu przedstawione będą techniki programistyczne i sposoby podnoszenia kwalifikacji użytkowników LabVIEW. Ostatni tydzień to prezentacja dodatkowych umiejętności, które należy posiąść, aby stać się ekspertem w graficznym projektowaniu systemów za pomocą LabVIEW.

Seminaria on-line będą prowadzone w języku angielskim. Rozpoczynają się o godz. 11:00 oraz 15:00 czasu środkowoeuropejskiego. W potwierdzeniu rejestracji, które otrzyma każdy uczestnik, będzie podawany czas seminarium obowiązujący w Wielkiej Brytanii (-1 godzina). Wymagana jest oddzielna rejestracja na każde z wybranych seminariów.

Terminarz seminarium "Wprowadzenie do akwizycji danych":

  • środa, 31.07.2013 r., godz. 15:00 (CET);
  • czwartek, 01.08.2013 r., godz. 11:00 (CET).

W trakcie tego seminarium uczestnicy dowiedzą się w jaki sposób wykorzystać  LabVIEW aby zwiększyć produktywność swojej pracy oraz tworzyć wyspecjalizowane rozwiązania do akwizycji danych i sterowania przyrządami pomiarowymi. Potwierdzone zostanie, iż LabVIEW zapewnia ścisłą integrację ze sprzętem, upraszczając proces automatyzacji pomiarów z szerokiej gamy czujników oraz urządzeń firm trzecich. Dodatkowo poznać będzie można funkcje analizy danych oraz możliwości wizualizacji wyników zebranych za pomocą LabVIEW.

Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

http://poland.ni.com/seminaria-on-line/labview-webcast

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł
Powiązane treści
Współpraca oprogramowania NI LabVIEW z AWR Visual System Simulator
Zobacz więcej w kategorii: Technika
Projektowanie i badania
Symulacje elektromagnetyczne w projektowaniu urządzeń elektronicznych
Pomiary
Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?
Projektowanie i badania
Kompatybilność elektromagnetyczna
Elektromechanika
Ewolucja aparatury modułowej - jak nowoczesne przekaźniki odpowiadają na współczesne wyzwania automatyki?
Mikrokontrolery i IoT
Arm Keil MDK v6: ewolucja narzędzi dla programistów systemów wbudowanych
Optoelektronika
Trzy poziomy inteligencji w wyświetlaczach - który wybrać do projektu?
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Sierpień 2026
Targi zagraniczne
Electronica 2026 - targi i konferencja producentów elektroniki
Targi zagraniczne
Elmässan Stockholm 2026

Kompatybilność elektromagnetyczna

Historia EMC (electromagnetic compatibility) zaczyna się od potrzeby opanowania problemu: co zrobić, gdy jedno urządzenie zaczyna zakłócać pracę drugiego. Miała swój początek wraz z pojawianiem się coraz większej liczby urządzeń elektrycznych wykonujących bardziej złożone zadania. Początkowo problem ten miał charakter niemal przypadkowy, a przybrał rolę istotnego wyzwania technicznego wymagającego systematycznego podejścia. Aktualnie jest to obowiązkowy punkt w produkcji urządzeń elektrycznych oraz elektronicznych.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów