NI Connect Fort Worth 2025

Dowiedz się więcej o LabVIEW+, DAQ i integracji AI - zajrzyj w przyszłość testowania! Podczas konferencji NI Connect można będzie wziąć udział w ponad 90 sesjach i zgłębiać tajniki języka Python, LabVIEW, najnowocześniejszej sztucznej inteligencji, integracji uczenia maszynowego i nie tylko.

Konferencja odbędzie się w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. w Fort Worth Convention Center - 1201 Houston Street, Fort Worth, TX 76102.

Źródło: National Instruments

Zobacz więcej w kategorii: Technika

Mikrokontrolery i IoT

Wymagania prawne w zakresie cyberbezpieczeństwa zmieniają IoT/IIoT

Zasilanie

Izolowane przetwornice DC/DC wysokiego napięcia

Komponenty

System automatyki KNX w produktach firmy Mean Well

Mikrokontrolery i IoT

Układy SoC serii Dragonwing IQ9 firmy Qualcomm do systemów edge AI nowej generacji

Produkcja elektroniki

Nowa biała księga: Jak radzić sobie z nieplanowanym zapotrzebowaniem

Mikrokontrolery i IoT

PSOC Edge - nowa generacja MCU do AI

Zobacz więcej z tagiem: Pomiary

Informacje z firm

Conrad nowym partnerem BMW IBU Biathlon World Cup w zakresie pomiaru czasu i elektroniki

Gospodarka

Certyfikowane urządzenia medyczne zmieniają rynek gadżetów fitness

Technika

Dlaczego w testach elektrycznych stosowane są 4-żyłowe połączenia Kelvina?

Ukryte koszty poprawek. Dlaczego naprawa projektu zawsze kosztuje więcej niż dobre planowanie - czyli im później wykryjesz błąd, tym drożej go naprawisz

Większość projektów elektronicznych nie upada dlatego, że zabrakło budżetu na komponenty — lecz dlatego, że zbyt późno wykryto błędy projektowe. To one, a nie same materiały, generują największe koszty: dodatkowe prototypy, opóźnienia, ponowne testy, a często nawet przebudowę całych urządzeń.