NI Connect Fort Worth 2025

Dowiedz się więcej o LabVIEW+, DAQ i integracji AI - zajrzyj w przyszłość testowania! Podczas konferencji NI Connect można będzie wziąć udział w ponad 90 sesjach i zgłębiać tajniki języka Python, LabVIEW, najnowocześniejszej sztucznej inteligencji, integracji uczenia maszynowego i nie tylko.

Konferencja odbędzie się w dniach 28-30 kwietnia 2025 r. w Fort Worth Convention Center - 1201 Houston Street, Fort Worth, TX 76102.

Źródło: National Instruments

Zobacz więcej w kategorii: Technika

Mikrokontrolery i IoT

Układy SoC serii Dragonwing IQ9 firmy Qualcomm do systemów edge AI nowej generacji

Produkcja elektroniki

Nowa biała księga: Jak radzić sobie z nieplanowanym zapotrzebowaniem

Mikrokontrolery i IoT

PSOC Edge - nowa generacja MCU do AI

Pomiary

Dlaczego w testach elektrycznych stosowane są 4-żyłowe połączenia Kelvina?

Komunikacja

Matter i Thread przyszłością automatyki domowej

Mikrokontrolery i IoT

Systemy automatyki domowej - przegląd rozwiązań i technologii

Zobacz więcej z tagiem: Pomiary

Gospodarka

Certyfikowane urządzenia medyczne zmieniają rynek gadżetów fitness

Technika

Dlaczego w testach elektrycznych stosowane są 4-żyłowe połączenia Kelvina?

Gospodarka

RFID 2026-2036: prognozy, gracze i możliwości

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.