Agilent Technologies rozszerza technikę pomiaru współczynnika szumów na zakres częstotliwości do 50 GHz

Unikalna technika korekcji impedancji źródła, wbudowana bezpośrednio w analizator sieci PNA-X o paśmie 43,5 i 50 GHz, zapewnia największą dokładność pomiaru i umożliwia przeprowadzanie wielu pomiarów w pojedynczej konfiguracji połączeniowej. Została opracowana dla inżynierów działów badawczo-rozwojowych i produkcyjnych zajmujących się testowaniem niskoszumowych tranzystorów, wzmacniaczy, mieszaczy i modułów nadawczo-odbiorczych.

Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

PNA-X stanowi część oferty rodziny analizatorów sieci PNA, obejmującej serie PNA-L, PNA i PNA-X pokrywające zakres częstotliwości od 300 kHz do 1,05 THz. Umożliwia pełną liniową i nieliniową charakteryzację komponentów przy pomocy jednego przyrządu i w pojedynczej konfiguracji połączeniowej. Przyrządy rodziny PNA zawierają porty LAN, USB i GPIB, charakteryzują się prostą architekturą opartą na systemie operacyjnym Microsoft Windows i zawierają rozbudowany system pomocy. Zarówno jednostka CPU, jak i system operacyjny mogą być uaktualniane wraz z rozwojem technologii.

Agilent - analizator sieci PNA-X N5242APrecyzyjne pomiary współczynnika szumów są niezbędne do testowania aparatury wojskowej, lotniczej i systemów komunikacji bezprzewodowej, jednak mogą być utrudnione w sytuacji, gdy nie jest możliwe bezpośrednie podłączenie tradycyjnego źródła szumów do testowanego urządzenia. Stosowana przez Agilent technika pomiarowa pozwala wyeliminować te problemy. Daje też możliwość prowadzania pomiarów parametrów macierzy rozproszenia, współczynnika szumów i innych, takich jak zawartość harmonicznych, kompresja czy zniekształcenia intermodulacyjne w pojedynczej konfiguracji połączeniowej. Skraca to czas testów, zwiększa przepustowość linii produkcyjnej, zmniejsza zużycie złączy i sond oraz minimalizuje ryzyko uszkodzeń badanych struktur półprzewodnikowych.

Nowy system pomiarowy na pasmo 50 GHz obejmuje wbudowany w analizator odbiornik niskoszumowy i tuner impedancji. Dostarczane przez Agilent analizatory sieci serii PNA-X łączą pełną wektorową korekcję błędów z korekcją impedancji, pozwalając w pełni wyeliminować efekt niedopasowania źródła. Dodatkowo, korygują wzajemną zależność między dopasowaniem wyjścia testowanego urządzenia i współczynnikiem szumów wewnętrznego odbiornika.

Te zaawansowane metody korekcji błędów zapewniają większą dokładność pomiaru od Y-factor i innych, prostszych wariantów metody zimnego źródła. Ponadto, użytkownik ma tu możliwość wyboru miernika mocy lub źródła szumów do kalibracji odbiornika. Sprzętowy system pomiaru szumów dla wersji 50 GHz jest też dostępny w modelach PNA-X o paśmie 67 GHz.

źródło: Agilent Technologies

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł
Powiązane treści
Agilent wydzieli nową firmę przejmującą oddział pomiarów elektronicznych
Agilent Technologies ogłasza promocję umożliwiającą darmowe rozszerzenie pasma oscyloskopu
Agilent Technologies zdobywa nagrodę Global Growth Leadership
Najnowszy oscyloskop Agilenta - MSO-X 4154A
Oscyloskop Agilent MSO-X 3104A - perfekcja, marzenie każdego elektronika
Agilent kupił Dako za 2,2 mld dol.
Agilent - jesteśmy gotowi na LTE
Agilent Technologies dostarcza system pomiarowy 500 GHz dla Politechniki Warszawskiej
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Zasilanie
Infineon sfinalizował przejęcie C2i Semiconductors. Wzmocni rozwiązania zasilania dla centrów danych AI
Elektromechanika
Więcej zaawansowanych i wytrzymałych rozwiązań połączeniowych - Farnell nawiązuje współpracę z Amphenol Nexus Technologies
Komunikacja
Europa poniesie olbrzymie koszty usuwania chińskiej technologii
Zasilanie
SMA otwiera w Niemczech nową fabrykę gigawatową. Inwestycja za 80 mln euro wzmocni europejski przemysł OZE
Aktualności
Farnell nominuje dr Sarę Ghaemi na stanowisko Regional Sales Director dla regionów Beneluksu i DACH
Produkcja elektroniki
Electro Welle inwestuje blisko 20 mln zł w rozwój zakładu w Marcinkowicach
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Wrzesień 2026
Magazyn
Sierpień 2026
Targi zagraniczne
Electronica 2026 - targi i konferencja producentów elektroniki

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów