Lenovo kupuje serwerowy oddział IBM

Napięcie między Stanami Zjednoczonymi a Chinami w zakresie cyberbezpieczeństwa osiągnęło nowe szczyty w momencie gdy w maju Departament Sprawiedliwości oskarżył pięciu chińskich urzędników wojskowych o włamywanie się do systemów firm amerykańskich i kradzież tajemnic handlowych. Chiny odrzucają zarzuty i w odpowiedzi oskarżają Waszyngton o prowadzenie masowego cyberszpiegostwa.

źródło: Reuters

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł

Powiązane treści

IBM planuje największe zwolnienia w historii

Lenovo przejęło biznes serwerów x86 IBM

Lenovo konsekwentnie zwiększa sprzedaż i zyski

Motorola przechodzi w ręce Lenovo

Lenovo przejmie serwerowy biznes IBM

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka

Pomiary

Wielowarstwowy system detekcji dronów Ericsson, Play i Asseco. Technologia ISAC i 5G w ochronie infrastruktury krytycznej

Komponenty

Produkty Stäubli Fluid Connectors w dystrybucji Semicona. Nowy model sprzedaży i szybsze dostawy w Polsce

Produkcja elektroniki

Siemens i Nvidia rozwijają system kontroli PCB oparty na AI

Komunikacja

Satelity potrzebują coraz większej autonomii

Komunikacja

Nokia zwiększa przychody o 10%. Silny wzrost w sektorze AI

Projektowanie i badania

AI zwiększa presję na badania i rozwój

Zobacz więcej z tagiem: Artykuły

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.