Ukazał się kolejny raport Automated Test Outlook 2017

National Instruments opublikował nową tegoroczną wersję raportu Automated Test Outlook 2017, prezentującego kluczowe technologie mające największy wpływ na środowiska testów zautomatyzowanych, zaczynając od konfigurowalnego sprzętu pomiarowego, przez platformy oprogramowania, kończąc na urządzeniach nowej generacji. Tegoroczna edycja zawiera unikatowy przegląd technologii, które w ostatnich 40 latach zmieniały współczesną technikę i przez wiele lat miały wpływ na przemysł testów oraz pomiarów.

Posłuchaj
00:00

Część współczesna koncentruje się na zagadnieniach odnoszących się do rozwiązań Big Analog Data oraz urządzeń Internetu Rzeczy. Kompletny raport dostępny jest na stronie www.ni.com/ato.

Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
Projektowanie i badania
Globalny wyścig robotaxi nabiera tempa
Aktualności
Centra danych współczesnymi ciepłowniami?
Komponenty
RS przejmuje Distrelec - powstaje nowy potentat dystrybucji przemysłowej
Komponenty
Generatywna sztuczna inteligencja zmienia globalny rynek procesorów
Aktualności
Samsung otwiera w Warszawie największe centrum biznesowe w Europie
Aktualności
Samsung i OpenAI nawiązują strategiczne partnerstwo na rzecz rozwoju globalnej infrastruktury AI
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Wrzesień 2025
Magazyn
Sierpień 2025
Magazyn
Lipiec 2025

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów