Pomiary i przetwarzanie danych

Termin: 13 Września 2011
Miejsce: Szczecin
Informacje dodatkowe:

National Instruments zaprasza na bezpłatne seminarium: "Pomiary i przetwarzanie danych - akwizycja, analiza oraz prezentacja danych pomiarowych".

Zagadnienia poruszane na seminarium:

  • Zagadnienia poruszane na seminarium:
  • Dobór dostosowanej do potrzeb konkretnej aplikacji platformy sprzętowe;
  • Wybór odpowiedniego oprogramowania służącego do przetwarzania danych;
  • Omówienie narzędzi przeznaczonych do prezentacji danych w sposób profesjonalny.

Seminaria odbędą się w Szczecinie (13.09), Poznaniu (14.09), Bydgoszczy (15.09), Gdańsku (16.09), Katowicach (20.09), Krakowie (21.09), Rzeszowie (22.09), Łodzi (23.09), Wrocławiu (27.09), Warszawie (29.09).

Więcej informacji: www.poland.ni.com/wydarzenia

Posłuchaj
00:00
Powiązane treści
VST - nowość na rynku pomiarów w radiokomunikacji
Systemy i urządzenia pomiarowe - raport techniczno-rynkowy
Zobacz więcej w kategorii: Raporty
Komponenty
Producenci oraz dostawcy wiązek kablowych
Zasilanie
Zasilacze na szynę DIN
Komponenty
Komponenty indukcyjne
Produkcja elektroniki
Narzędzia ręczne i wyposażenie warsztatowe
PCB
Obwody drukowane
Produkcja elektroniki
Sprzęt i usługi do produkcji małoseryjnej/prototypowej
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Wrzesień 2025
Magazyn
Sierpień 2025
Magazyn
Lipiec 2025

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów