Pomiar i Symulacja EM - Efektywne projektowanie układów mikrofalowych

CST - Computer Simulation Technology zaprasza na seminarium organizowane z firmą Rohde & Schwarz, poświęcone projektowaniu układów mikrofalowych na PCB oraz ich pomiarom za pomocą analizatora sieci wektorowych. Prezentacjom będzie towarzyszył praktyczny pokaz projektowania układów w CST STUDIO Suite, a także porównanie wyników symulacji z parametrami mierzonymi za pomocą analizatora obwodów Rohde & Schwarz.

W programie seminarium przewidziano następujące tematy:

  • Projektowanie układu mikrofalowego w CST STUDIO SUITE - połączenia międzywarstwowe, wpływ złącz, parametry podłoża, itp.;
  • Wektorowe Analizatory Obwodów Rohde & Schwarz - pomiar przykładowego układu;
  • OptenniLab - współpraca aplikacji do projektowania układów z wektorowym analizatorem obwodów w czasie rzeczywistym - projekt układu dopasowującego na bazie parametrów ze zmierzonych próbek;
  • Kalibracja wektorowego analizatora obwodów. Możliwe błędy w realizacji kalibracji i pomiarów rzeczywistych obwodów;
  • Ekstrakcja własności materiałowych podłoża;
  • Projekt filtra RFw CST STUDIO SUITE - projekt filtra z uwzględnieniem wszystkich efektów ubocznych.
  • Pomiary filtra i inne możliwości wykorzystania wektorowych analizatorów obwodów - pomiar parametrów filtra i porównanie z pierwotnymi założeniami, obszary wykorzystania analizatorów obwodów, np. pomiary wzmacniaczy, pomiary mieszaczy oraz pomiary w dziedzinie czasu.

Udział w spotkaniu jest bezpłatny, wymagana jest tylko wcześniejsza rejestracja na stronie https://www.cst.com/Contact?evid=3153&request=workshop
Seminarium odbędzie się 5 listopada w Warszawie przy ul. Stawki 2 - Intraco, Sala Seminaryjna.

Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

http://www.cst.com/Events/Details/3153

Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł
Powiązane treści
Rozmowa z Jerzym Krawczykiem, dyrektorem Micro-Activ Components
Zobacz więcej w kategorii: Wywiady
Pomiary
Laboratoria RCS i pomiary sygnatur radarowych: miniwywiad - Łukasz Wilk, Albatross Projects
Projektowanie i badania
Komory do badań EMC: miniwywiad - Przemysław Stencel, OBR CTM
Projektowanie i badania
Komory do badań EMC: miniwywiad - Marcin Jurga, ASTAT
Elektromechanika
Złącza przemysłowe i energoelektroniczne: miniwywiad – Jakub Samp, Masters
Elektromechanika
Złącza przemysłowe i energoelektroniczne: miniwywiad - Tomasz Sudoł, Transfer Multisort Elektronik
Elektromechanika
Złącza przemysłowe i energoelektroniczne: miniwywiad - Karol Lenkiewicz, igus
Zobacz więcej z tagiem: Artykuły
Magazyn
Październik 2026
Magazyn
Wrzesień 2026
Magazyn
Sierpień 2026

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów