Technika

Testowanie skutków ESD nieustannie ewoluuje
Artykuły

Testowanie skutków ESD nieustannie ewoluuje

Optymalizacja rezultatów mycia obszaru pod komponentami
Artykuły
Optymalizacja rezultatów mycia obszaru pod komponentami
Poniedziałek, 11 sierpnia 2014
Czyszczenie PCB
Artykuły
Czyszczenie PCB
Poniedziałek, 11 sierpnia 2014
Nowe modułowe konwertery zasilające o dużej gęstości mocy
Artykuły
Nowe modułowe konwertery zasilające o dużej gęstości mocy
Piątek, 08 sierpnia 2014
Po 10 latach zasilanie przez Ethernet stało się standardem
Artykuły
Po 10 latach zasilanie przez Ethernet stało się standardem
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Pojemnościowy detektor wilgotności powietrza
Artykuły
Pojemnościowy detektor wilgotności powietrza
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Konstrukcje i parametry źródeł napięcia odniesienia
Artykuły
Konstrukcje i parametry źródeł napięcia odniesienia
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Zasilacze bezprzerwowe - konfiguracje i właściwości
Artykuły
Zasilacze bezprzerwowe - konfiguracje i właściwości
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Jakość obwodów drukowanych oraz podstawowe metody jej oceny
Artykuły
Jakość obwodów drukowanych oraz podstawowe metody jej oceny
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Bezprzewodowe ładowanie urządzeń przenośnych i pojazdów elektrycznych
Artykuły
Bezprzewodowe ładowanie urządzeń przenośnych i pojazdów elektrycznych
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Technologia LDS dla producentów oświetlenia diodowego
Artykuły
Technologia LDS dla producentów oświetlenia diodowego
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Interfejs użytkownika - sterowanie za pomocą gestów
Artykuły
Interfejs użytkownika - sterowanie za pomocą gestów
Poniedziałek, 14 lipca 2014
STMicroelectronics - nowe zestawy startowe
Artykuły
STMicroelectronics - nowe zestawy startowe
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Technologia VA w wyświetlaczach LCD o wysokim kontraście
Artykuły
Technologia VA w wyświetlaczach LCD o wysokim kontraście
Poniedziałek, 14 lipca 2014
Oscyloskopy RTE Rohde&Schwarz zapełnia środkową półkę
Artykuły
Oscyloskopy RTE Rohde&Schwarz zapełnia środkową półkę
Piątek, 27 czerwca 2014
Innowacyjne rozwiązania pomiarowe do badań i pomiarów w EMC
Artykuły
Innowacyjne rozwiązania pomiarowe do badań i pomiarów w EMC
Środa, 25 czerwca 2014
Skaner EMxpert w badaniach EMC pozwala na pomiar zaburzeń w dwóch wymiarach w czasie rzeczywistym
Artykuły
Skaner EMxpert w badaniach EMC pozwala na pomiar zaburzeń w dwóch wymiarach w czasie rzeczywistym
Środa, 25 czerwca 2014
Kompatybilność elektromagnetyczna - szybka analiza zaburzeń krótkotrwałych
Artykuły
Kompatybilność elektromagnetyczna - szybka analiza zaburzeń krótkotrwałych
Wtorek, 24 czerwca 2014
Badania typu pre-compliance
Artykuły
Badania typu pre-compliance
Wtorek, 24 czerwca 2014
Pomiary widma klasycznymi analizatorami przemiatającymi i analizatorami z cyfrową p.cz., cz. 3
Artykuły
Pomiary widma klasycznymi analizatorami przemiatającymi i analizatorami z cyfrową p.cz., cz. 3
Wtorek, 24 czerwca 2014
Technologia LDS w produkcji karkasów elementów indukcyjnych
Artykuły
Technologia LDS w produkcji karkasów elementów indukcyjnych
Wtorek, 24 czerwca 2014
Systemy operacyjne czasu rzeczywistego - charakterystyka i kryteria wyboru
Artykuły
Systemy operacyjne czasu rzeczywistego - charakterystyka i kryteria wyboru
Wtorek, 24 czerwca 2014

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów