Nowa, piąta generacja systemu Raith PIONEER - przełomowa hybryda EBL-SEM w ofercie firmy PROKON

Niemiecki producent aparatury naukowo-badawczej Raith wprowadził na rynek piątą generację wielofunkcyjnego systemu litografii wiązką elektronów PIONEER. Urządzenie, reprezentujące unikatową kategorię rozwiązań hybrydowych EBL-SEM, jest oficjalnie dostępne na polskim rynku za pośrednictwem firmy PROKON. Najnowszy model oferuje wyższą wydajność, usprawnioną obsługę oraz udoskonalone parametry techniczne, zachowując przy tym przystępny poziom cenowy.

Dodaj do ulubionych źródeł w Google
Posłuchaj
00:00

Bezkompromisowa architektura hybrydowa

Od chwili debiutu rynkowego system PIONEER zajmuje osobną pozycję w obszarze zaawansowanej nanofabrykacji. Budowa urządzenia odbiega od standardowych konstrukcji powstałych poprzez adaptację tradycyjnego mikroskopu. Jak podkreślono w specyfikacji technologicznej, w przeciwieństwie do konwencjonalnych zestawów łączących mikroskop elektronowy (SEM) z generatorem wzorów, został on od podstaw zaprojektowany jako prawdziwie hybrydowe rozwiązanie, łączące najnowocześniejszą litografię wiązką elektronów (EBL) z zaawansowanymi możliwościami obrazowania SEM.

Zintegrowana koncepcja sprzętowa umożliwia naukowcom i inżynierom pełną realizację cyklu technologicznego bez konieczności przenoszenia próbek między różnymi urządzeniami. W praktyce oznacza to możliwość wytwarzania, kontrolowania, analizowania oraz charakteryzowania nanostruktur w obrębie jednej platformy, co bezpośrednio redukuje złożoność procesów technologicznych i podnosi ich ogólną efektywność. System wyposażono również w dedykowany moduł obrotu i nachylenia (tilt and rotate), który pozwala na kompleksową diagnostykę obrazową SEM bez negatywnego wpływu na jakość prowadzonej litografii.

Udoskonalenia techniczne i wydajność V generacji

Współczesne prace badawczo-rozwojowe wymagają wyższej precyzji oraz większej przepustowości. Piąta generacja PIONEER odpowiada na te potrzeby poprzez wdrożenie całkowicie nowego generatora wzorów (50 MHz/20-bit) skonstruowanego w oparciu o technologię FPGA, co znacząco przyspiesza proces naświetlania wzorów litograficznych.

Poprawie uległy również krytyczne parametry pozycjonowania i dopasowania wzorów. Urządzenie osiąga dokładność łączenia pól (stitching) oraz nakładania kolejnych warstw (overlay) na poziomie 40 nm (wyznaczaną jako wartość średnia + 3 sigma).

Dla zapewnienia wyższej powtarzalności oraz skrócenia czasu przygotowania eksperymentu, producent zautomatyzował kluczowe procedury obsługi kolumny elektronowej. Zestaw automatycznych funkcji obejmuje
autofokus oraz korektę (usuwanie) astygmatyzmu (stygmator), automatyczną regulację jasności i kontrastu obrazu, a także nową opcję śluzy załadowczej (load-lock) usprawniającą transfer próbek.

Warstwa programowa platformy została rozbudowana w ramach pakietu Nanosuite. Użytkownicy zyskali bezpośrednie funkcje importu danych z zewnętrznego oprogramowania przygotowawczego oraz możliwość bezpośredniego wgrywania plików graficznych BMP na potrzeby precyzyjnej litografii w skali szarości.

Spektrum zastosowań badawczych

Konstrukcja systemu PIONEER została zoptymalizowana pod kątem dynamicznie zmieniających się wymagań sektora R&D. Według deklaracji producenta, to idealne, wielozadaniowe narzędzie dla akademickich środowisk badawczych zajmujących się fotoniką, inżynierią materiałową oraz technologiami kwantowymi. Urządzenie znajduje zastosowanie wszędzie tam, gdzie wymagana jest jednoczesna precyzyjna litografia, zaawansowane obrazowanie strukturalne oraz metrologia w nanoskali.

Dystrybucja i kontakt w Polsce
Autoryzowanym przedstawicielem firmy Raith w Polsce, odpowiedzialnym za dystrybucję oraz wsparcie techniczne systemu PIONEER, jest przedsiębiorstwo PROKON Piekarska Katarzyna z siedzibą w Warszawie.

Źródło: Prokon Katarzyna Piekarska, RAITH GmbH

Więcej na prokon-elektronika.pl
Chcesz częściej widzieć nasze artykuły w Google? Dodaj ElektronikaB2B do ulubionych źródeł
Powiązane treści
Nowa generacja chipów dla AI. Applied Materials i Intel zacieśniają współpracę
Przełom w transferze cienkich warstw półprzewodnikowych: EV Group wprowadza system EVG®880 LayerRelease
Tresky T-200 - rewolucja w precyzyjnym montażu układów mikroelektronicznych i fotoniki
Uwolnij pełny potencjał nanolitografii – premiera 9. generacji systemu ELPHY
Zobacz więcej w kategorii: Prezentacje firmowe
Komponenty
Cewki powietrzne POLFER – konstrukcje, zastosowania i produkcja na zamówienie
Pomiary
Systemy rejestracji czasu pracy – technologie identyfikacji i kryteria wyboru
PCB
Jak wyeliminować błędy w produkcji PCB? Zasady DFM i DRC w praktyce
Komunikacja
Switche Moxa TWS-3010: Single Pair Ethernet i Ethernet-APL w automatyce przemysłowej
Komponenty
Architektura Intel Twin Lake: wydajne komputery SBC z chłodzeniem pasywnym dla przemysłu
Elektromechanika
SCHUNK EZU – elektryczny chwytak do obsługi detali o różnych średnicach
Zobacz więcej z tagiem: Produkcja elektroniki
Technika
Szablon SMT a jakość nadruku pasty lutowniczej
Gospodarka
Siemens i Nvidia rozwijają system kontroli PCB oparty na AI
Technika
Wady lutowania na fali - jak ograniczyć mostkowanie i niedobory lutu?

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów