Keysight prezentuje nowe rozwiązanie do testowania bezpieczeństwa systemów wbudowanych – premiera testbencha nowej generacji

Keysight Technologies zaprezentował nowej generacji stanowisko testowe do oceny bezpieczeństwa systemów wbudowanych. Nowe rozwiązanie – Next-Generation Embedded Security Testbench – integruje zaawansowane funkcje pomiarowe, analizatory sygnałów oraz narzędzia do wstrzykiwania błędów w jednej platformie PXIe. Odpowiadając na rosnące wyzwania związane z testowaniem układów scalonych i urządzeń IoT, Keysight oferuje rozwiązanie, które zwiększa precyzję, upraszcza konfigurację i przyspiesza procesy certyfikacyjne w laboratoriach bezpieczeństwa.

Posłuchaj
00:00

Nowe wyzwania w testowaniu bezpieczeństwa układów i urządzeń IoT

W dobie powszechnej łączności i rosnącego zaawansowania zagrożeń cybernetycznych, twórcy urządzeń oraz laboratoria bezpieczeństwa stają przed coraz większymi wyzwaniami. Tradycyjne metody testowania wymagają często skomplikowanej infrastruktury złożonej z wielu niezależnych urządzeń, co przekłada się na większą złożoność, wydłużony czas testowania oraz ryzyko niespójnych wyników. Nowe stanowisko testowe Keysight rozwiązuje te problemy, oferując zunifikowaną i wydajną platformę do kompleksowej analizy bezpieczeństwa urządzeń.

Zaawansowana architektura PXIe zwiększa wydajność testów

Testbench oparty jest na architekturze PXIe wysokiej prędkości, opracowanej z myślą o złożonych wymaganiach współczesnych testów bezpieczeństwa. Stanowi rozwinięcie linii produktów Device Vulnerability Analysis, oferując nawet 10-krotnie wyższą efektywność w zakresie analizy kanałów bocznych (Side-Channel Analysis, SCA) oraz testów wstrzykiwania błędów (Fault Injection, FI) – kluczowych technik w wykrywaniu i neutralizowaniu podatności sprzętowych.

Konstrukcja zaprojektowana z myślą o różnych scenariuszach testowych

Rozwiązanie ma budowę modułową, co pozwala dostosować je do różnych scenariuszy testowych. Integracja kluczowych komponentów – takich jak oscyloskopy, układy interfejsowe, wzmacniacze oraz generatory wyzwalania – w jednej obudowie PXIe znacznie ogranicza potrzebę stosowania rozbudowanego okablowania i poprawia szybkość komunikacji między modułami.

Trzy kluczowe elementy platformy testowej

Platforma składa się z trzech podstawowych elementów: obudowy M9046A PXIe, kontrolera wbudowanego wysokiej wydajności M9038A PXIe oraz oprogramowania Inspector. W zależności od potrzeb, zestaw można rozszerzyć o dodatkowe narzędzia przeznaczone do bardziej złożonych testów – w tym dodatkowe oscyloskopy i komponenty elektromagnetyczne (EM). Keysight deklaruje ciągły rozwój platformy i planuje wprowadzenie kolejnych zaawansowanych modułów w przyszłości.

Pierwsze wdrożenia i opinie ekspertów z branży

Wei Yan Mao, dyrektor operacyjny w Applus+ Laboratories, skomentował:

- W Applus+ Laboratories dostrzegamy ogromny potencjał techniczny i elastyczność nowej platformy, dlatego postanowiliśmy jako jedni z pierwszych wdrożyć ją w naszych akredytowanych laboratoriach oceny bezpieczeństwa IT (ITSEF).

Z kolei Erwin in ’t Veld, menedżer produktu w Device Security Research Lab firmy Keysight, powiedział:

- Dzięki nowej generacji Embedded Security Testbench wyznaczamy nowy standard testowania bezpieczeństwa urządzeń. Zapewniając większą wydajność i elastyczność w uproszczonym procesie oraz oferując skalowalność, umożliwiamy użytkownikom skuteczne reagowanie na współczesne wyzwania oraz dostosowanie się do przyszłych zmian technologicznych.

Źródło: Keysight

Powiązane treści
Farnell rozszerza ofertę urządzeń o zaawansowany, 14-bitowy precyzyjny oscyloskop firmy Keysight
Keysight InfiniiVision – jak wybrać właściwy oscyloskop?
Keysight prezentuje serię podcastów o tematyce aparatury kontrolno-pomiarowej
Keysight Technologies będzie sprzedawał aparaturę przez Internet
ME Embedded i Congatec - partnerstwo, które przyspieszy rozwój systemów automatyki i IoT
Farnell dodaje do oferty nową aparaturę serii Smart Bench Essentials firmy Keysight
Zobacz więcej w kategorii: Gospodarka
PCB
Eurocircuits startuje z konkurencyjną ofertą płytek HDI
Mikrokontrolery i IoT
Ceva i Microchip wspólnie napędzają rozwój sztucznej inteligencji w urządzeniach brzegowych
Produkcja elektroniki
Chińska branża MEMS w silnym trendzie wzrostowym
Projektowanie i badania
TSMC otwiera Europejskie Centrum Projektowe w Monachium
Projektowanie i badania
Pierwszy w Polsce hackathon wdrożeniowy HackNation 2025 - nagrody: 500 tys. zł
Produkcja elektroniki
TechInsights ukarany za dociekliwość
Zobacz więcej z tagiem: Pomiary
Technika
Dlaczego w testach elektrycznych stosowane są 4-żyłowe połączenia Kelvina?
Gospodarka
RFID 2026-2036: prognozy, gracze i możliwości
Gospodarka
Polski odbiornik GNSS zsynchronizuje czas w europejskiej infrastrukturze krytycznej

Najczęstsze błędy przy projektowaniu elektroniki i jak ich uniknąć

W elektronice „tanio” bardzo często znaczy „drogo” – szczególnie wtedy, gdy oszczędza się na staranności projektu. Brak precyzyjnych wymagań, komponent wycofany z produkcji czy źle poprowadzona masa mogą sprawić, że cały produkt utknie na etapie montażu SMT/THT albo testów funkcjonalnych. Konsekwencje są zawsze te same: opóźnienia i dodatkowe koszty. Dlatego warto znać najczęstsze błędy, które pojawiają się w projektach elektroniki – i wiedzieć, jak im zapobiegać.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów