Technika

Pętla fazowa - kiedyś i dzisiaj
Artykuły

Pętla fazowa - kiedyś i dzisiaj

Metody zwiększania dokładności pomiarów poziomu sygnału w analizatorach Anritsu nowej generacji - część 2
Artykuły
Metody zwiększania dokładności pomiarów poziomu sygnału w analizatorach Anritsu nowej generacji - część 2
Wtorek, 13 sierpnia 2013
Bezszczotkowe silniki DC stają się coraz popularniejsze
Artykuły
Bezszczotkowe silniki DC stają się coraz popularniejsze
Wtorek, 13 sierpnia 2013
Technologia PoP - defekty w montażu
Artykuły
Technologia PoP - defekty w montażu
Środa, 17 lipca 2013
Projektowanie płytek drukowanych z układami BGA o bardzo drobnym rastrze
Artykuły
Projektowanie płytek drukowanych z układami BGA o bardzo drobnym rastrze
Środa, 17 lipca 2013
Akumulatory - niezawodność i bezpieczeństwo
Artykuły
Akumulatory - niezawodność i bezpieczeństwo
Środa, 17 lipca 2013
Pobór mocy - skuteczna minimalizacja wymaga zwrócenia uwagi na szczegóły
Artykuły
Pobór mocy - skuteczna minimalizacja wymaga zwrócenia uwagi na szczegóły
Środa, 17 lipca 2013
Metody zwiększania dokładności pomiarów poziomu sygnału w analizatorach Anritsu nowej generacji - część 1
Artykuły
Metody zwiększania dokładności pomiarów poziomu sygnału w analizatorach Anritsu nowej generacji - część 1
Środa, 17 lipca 2013
Zasilacze stają się bardziej cyfrowe
Artykuły
Zasilacze stają się bardziej cyfrowe
Wtorek, 16 lipca 2013
AOI - fakty i mity o megapikselach
Artykuły
AOI - fakty i mity o megapikselach
Poniedziałek, 15 lipca 2013
Podłączamy przewody!
Artykuły
Podłączamy przewody!
Środa, 26 czerwca 2013
Topologia ZVS zapewnia wysoką sprawność konwerterów POL
Artykuły
Topologia ZVS zapewnia wysoką sprawność konwerterów POL
Środa, 26 czerwca 2013
Eliminacja zagrożeń ESD w nowoczesnych aplikacjach
Artykuły
Eliminacja zagrożeń ESD w nowoczesnych aplikacjach
Środa, 26 czerwca 2013
Uziemianie i ekranowanie w układach o wysokiej impedancji
Artykuły
Uziemianie i ekranowanie w układach o wysokiej impedancji
Środa, 26 czerwca 2013
Zwiększanie żywotności i eliminowanie błędów danych w pamięciach Flash
Artykuły
Zwiększanie żywotności i eliminowanie błędów danych w pamięciach Flash
Wtorek, 25 czerwca 2013
Przekaźnik bistabilny. Jak nim sterować?
Artykuły
Przekaźnik bistabilny. Jak nim sterować?
Wtorek, 25 czerwca 2013
SPIRIT1: jednoukładowy, inteligentny transceiver ISM z oferty STMicroelectronics
Artykuły
SPIRIT1: jednoukładowy, inteligentny transceiver ISM z oferty STMicroelectronics
Czwartek, 20 czerwca 2013
Sensory MEMS motorem napędowym rynku elektroniki
Artykuły
Sensory MEMS motorem napędowym rynku elektroniki
Czwartek, 20 czerwca 2013
Rodzina przemysłowych złączy sprężynowych 8EDG-STD Degsona
Artykuły
Rodzina przemysłowych złączy sprężynowych 8EDG-STD Degsona
Czwartek, 20 czerwca 2013
Oscyloskopy R&S RTO - zalety cyfrowego systemu wyzwalania
Artykuły
Oscyloskopy R&S RTO - zalety cyfrowego systemu wyzwalania
Czwartek, 20 czerwca 2013
Oscyloskopy cyfrowe wysokiej rozdzielczości - architektura i ograniczenia
Artykuły
Oscyloskopy cyfrowe wysokiej rozdzielczości - architektura i ograniczenia
Czwartek, 20 czerwca 2013
Aparatura pomiarowa UNI-T
Artykuły
Aparatura pomiarowa UNI-T
Czwartek, 20 czerwca 2013

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów