Technika

Debugowanie procesorów wielordzeniowych
Artykuły

Debugowanie procesorów wielordzeniowych

Tranzystory MOSFET kontra IGBT - świadomy wybór
Artykuły
Tranzystory MOSFET kontra IGBT - świadomy wybór
Piątek, 15 marca 2013
Materiały UV w produkcji elektroniki
Artykuły
Materiały UV w produkcji elektroniki
Piątek, 15 marca 2013
Wentylatory Maxair - wysoka wydajność przy niskim poziomie hałasu
Artykuły
Wentylatory Maxair - wysoka wydajność przy niskim poziomie hałasu
Piątek, 15 marca 2013
Popularne procesory sygnałowe
Artykuły
Popularne procesory sygnałowe
Poniedziałek, 25 lutego 2013
STM32L: Ultra Low Power w 32-bitowym wydaniu
Artykuły
STM32L: Ultra Low Power w 32-bitowym wydaniu
Poniedziałek, 25 lutego 2013
HARTING har-flex oznacza jakość
Artykuły
HARTING har-flex oznacza jakość
Piątek, 22 lutego 2013
Ładowanie systemu operacyjnego w urządzeniach wbudowanych
Artykuły
Ładowanie systemu operacyjnego w urządzeniach wbudowanych
Piątek, 22 lutego 2013
Projektowanie płytek drukowanych z układami typu high-speed
Artykuły
Projektowanie płytek drukowanych z układami typu high-speed
Piątek, 22 lutego 2013
MDO4000 - oscyloskop z funkcjami oscyloskopu i analizatora widma
Artykuły
MDO4000 - oscyloskop z funkcjami oscyloskopu i analizatora widma
Piątek, 22 lutego 2013
Bezprzerwowe zasilacze - konfiguracje i właściwości
Artykuły
Bezprzerwowe zasilacze - konfiguracje i właściwości
Środa, 09 stycznia 2013
Korozja płytek drukowanych
Artykuły
Korozja płytek drukowanych
Środa, 09 stycznia 2013
Źródła napięcia odniesienia
Artykuły
Źródła napięcia odniesienia
Środa, 09 stycznia 2013
Analizator widma Rigol DSA815
Artykuły
Analizator widma Rigol DSA815
Sobota, 15 grudnia 2012
Najnowszy oscyloskop Agilenta - MSO-X 4154A
Artykuły
Najnowszy oscyloskop Agilenta - MSO-X 4154A
Czwartek, 13 grudnia 2012
Thunderbolt - nowy standard szybkiego interfejsu komunikacyjnego
Artykuły
Thunderbolt - nowy standard szybkiego interfejsu komunikacyjnego
Czwartek, 13 grudnia 2012
Littelfuse - elementy zabezpieczające w układach elektronicznych
Artykuły
Littelfuse - elementy zabezpieczające w układach elektronicznych
Czwartek, 13 grudnia 2012
Oferta STMicroelectronics i pasma ISM
Artykuły
Oferta STMicroelectronics i pasma ISM
Czwartek, 13 grudnia 2012
Optymalizacja mocy promieniowanej w mobilnych urządzeniach komunikacji bezprzewodowej
Artykuły
Optymalizacja mocy promieniowanej w mobilnych urządzeniach komunikacji bezprzewodowej
Czwartek, 13 grudnia 2012
Ograniczanie strat mocy w układach półprzewodnikowych
Artykuły
Ograniczanie strat mocy w układach półprzewodnikowych
Czwartek, 13 grudnia 2012
Wybór topologii przetwornicy DC-DC w sterownikach diod LED
Artykuły
Wybór topologii przetwornicy DC-DC w sterownikach diod LED
Czwartek, 13 grudnia 2012
Kamery termowizyjne firmy Sonel
Artykuły
Kamery termowizyjne firmy Sonel
Czwartek, 13 grudnia 2012

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów