Technika

Nowe funkcje w Altium Designer 17
Artykuły

Nowe funkcje w Altium Designer 17

Zasilacz pomocniczy w aplikacjach energoelektronicznych
Artykuły
Zasilacz pomocniczy w aplikacjach energoelektronicznych
Czwartek, 08 grudnia 2016
Tenma 72-8720 - multimetr laboratoryjny
Artykuły
Tenma 72-8720 - multimetr laboratoryjny
Czwartek, 17 listopada 2016
TENMA 72-9355 - oscyloskop ręczny
Artykuły
TENMA 72-9355 - oscyloskop ręczny
Czwartek, 17 listopada 2016
Elastyczne przezroczyste wyświetlacze OLED
Artykuły
Elastyczne przezroczyste wyświetlacze OLED
Czwartek, 17 listopada 2016
Zasilanie energią wolnodostępną modułów komunikacji bezprzewodowej w IoT
Artykuły
Zasilanie energią wolnodostępną modułów komunikacji bezprzewodowej w IoT
Wtorek, 15 listopada 2016
Doskonalsze koncentryki dzięki doskonalszym dielektrykom
Artykuły
Doskonalsze koncentryki dzięki doskonalszym dielektrykom
Wtorek, 15 listopada 2016
Żyroskopy MEMS w trudnych warunkach środowiskowych
Artykuły
Żyroskopy MEMS w trudnych warunkach środowiskowych
Wtorek, 15 listopada 2016
Odbiorniki w.cz. - parametry i konfiguracje
Artykuły
Odbiorniki w.cz. - parametry i konfiguracje
Wtorek, 15 listopada 2016
Duży zasięg komunikacji w nielicencjonowanym paśmie radiowym, czyli nowe technologie WAN
Komunikacja
Duży zasięg komunikacji w nielicencjonowanym paśmie radiowym, czyli nowe technologie WAN
Poniedziałek, 14 listopada 2016
Kompleksowy system zasilający dla systemów 48 V
Artykuły
Kompleksowy system zasilający dla systemów 48 V
Poniedziałek, 14 listopada 2016
VIPerPlus w zasilaczu beztransformatorowym
Artykuły
VIPerPlus w zasilaczu beztransformatorowym
Poniedziałek, 14 listopada 2016
Zasilanie komponentów instalacji fotowoltaicznej
Komponenty
Zasilanie komponentów instalacji fotowoltaicznej
Poniedziałek, 14 listopada 2016
Nowy rejestrator przebiegów fizycznych
Artykuły
Nowy rejestrator przebiegów fizycznych
Poniedziałek, 14 listopada 2016
Konfiguracja definiowanych programowo systemów testowych WLAN
Artykuły
Konfiguracja definiowanych programowo systemów testowych WLAN
Środa, 09 listopada 2016
Maski antylutownicze w obwodach drukowanych
Artykuły
Maski antylutownicze w obwodach drukowanych
Środa, 09 listopada 2016
SWTBC - uniwersalny sterownik ładowarki bezprzewodowej z oferty STMicroelectronics
Artykuły
SWTBC - uniwersalny sterownik ładowarki bezprzewodowej z oferty STMicroelectronics
Czwartek, 20 października 2016
Sensor fusion - aplikacje i realizacje
Artykuły
Sensor fusion - aplikacje i realizacje
Czwartek, 20 października 2016
Projektowanie układów do pracy w trudnych warunkach środowiskowych
Artykuły
Projektowanie układów do pracy w trudnych warunkach środowiskowych
Czwartek, 20 października 2016
Mikrokontrolery - ukryty świat
Artykuły
Mikrokontrolery - ukryty świat
Czwartek, 20 października 2016
Obszar pracy bezpiecznej w tranzystorach MOSFET - coraz bardziej istotny dla projektantów
Artykuły
Obszar pracy bezpiecznej w tranzystorach MOSFET - coraz bardziej istotny dla projektantów
Czwartek, 20 października 2016
USB typu C - kabel sygnałowy przyszłości
Artykuły
USB typu C - kabel sygnałowy przyszłości
Czwartek, 20 października 2016

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów