Produkcja elektronikiPCBKomponentyZasilanieElektromechanikaKomunikacja Mikrokontrolery i IoTOptoelektronikaPomiaryProjektowanie i badania
RynekFirmyProduktyGospodarkaNowościRaportyWywiadyTechnikaOpiniePuls branżyKalendariumMagazynDla firm

Technika

Systemy laserowe w produkcji elastycznych obwodów drukowanych zapewniają najlepszą jakość i dokładność cięcia
Artykuły

Systemy laserowe w produkcji elastycznych obwodów drukowanych zapewniają najlepszą jakość i dokładność cięcia

Przekaźnik bistabilny rozwiązuje problemy z dużym poborem mocy w układach sterowania
Artykuły
Przekaźnik bistabilny rozwiązuje problemy z dużym poborem mocy w układach sterowania
Czwartek, 23 maja 2013
Próbkowanie sygnałów z przeplotem czasowym pozwala pokonać wiele ograniczeń układowych
Artykuły
Próbkowanie sygnałów z przeplotem czasowym pozwala pokonać wiele ograniczeń układowych
Czwartek, 23 maja 2013
Punkt przechwytu trzeciego rzędu to jeden z najważniejszych parametrów charakteryzujących analogowe układy wysokiej częstotliwości
Artykuły
Punkt przechwytu trzeciego rzędu to jeden z najważniejszych parametrów charakteryzujących analogowe układy wysokiej częstotliwości
Czwartek, 23 maja 2013
Transceiver sygnałów wektorowych - architektura sprzętowa
Artykuły
Transceiver sygnałów wektorowych - architektura sprzętowa
Środa, 24 kwietnia 2013
STM32F4 - granica 2 MB Flash pokonana
Artykuły
STM32F4 - granica 2 MB Flash pokonana
Środa, 24 kwietnia 2013
Adaptacja standardowych elementów do własnych potrzeb czy tworzenie nowego produktu?
Artykuły
Adaptacja standardowych elementów do własnych potrzeb czy tworzenie nowego produktu?
Środa, 24 kwietnia 2013
Projektowanie interfejsów użytkownika z sensorami pojemnościowymi
Artykuły
Projektowanie interfejsów użytkownika z sensorami pojemnościowymi
Wtorek, 23 kwietnia 2013
Projektowanie ładowarki akumulatorów litowo-jonowych
Artykuły
Projektowanie ładowarki akumulatorów litowo-jonowych
Wtorek, 23 kwietnia 2013
Odzież w strefach EPA i cleanroom - dobór, metody prania i serwisowania
Artykuły
Odzież w strefach EPA i cleanroom - dobór, metody prania i serwisowania
Wtorek, 23 kwietnia 2013
Wypełnienia typu underfill zwiększają niezawodność montażu układów flip-chip
Artykuły
Wypełnienia typu underfill zwiększają niezawodność montażu układów flip-chip
Wtorek, 23 kwietnia 2013
STM32F3 - garść porad od strony sprzętowej
Artykuły
STM32F3 - garść porad od strony sprzętowej
Poniedziałek, 18 marca 2013
Wykorzystanie technologii Bluetooth w surowych warunkach środowiskowych
Artykuły
Wykorzystanie technologii Bluetooth w surowych warunkach środowiskowych
Piątek, 15 marca 2013
Rogers – najnowsza oferta laminatów podłożowych dla układów cyfrowych i analogowych
Artykuły
Rogers – najnowsza oferta laminatów podłożowych dla układów cyfrowych i analogowych
Piątek, 15 marca 2013
Płytki drukowane do układów w.cz.
Artykuły
Płytki drukowane do układów w.cz.
Piątek, 15 marca 2013
Maksymalne dopuszczalne natężenie prądu pobieranego przez wzmacniacz operacyjny może być wysokie
Artykuły
Maksymalne dopuszczalne natężenie prądu pobieranego przez wzmacniacz operacyjny może być wysokie
Piątek, 15 marca 2013
Procesory wielordzeniowe w systemach pomiarowych
Artykuły
Procesory wielordzeniowe w systemach pomiarowych
Piątek, 15 marca 2013
Debugowanie procesorów wielordzeniowych
Artykuły
Debugowanie procesorów wielordzeniowych
Piątek, 15 marca 2013
Tranzystory MOSFET kontra IGBT - świadomy wybór
Artykuły
Tranzystory MOSFET kontra IGBT - świadomy wybór
Piątek, 15 marca 2013
Materiały UV w produkcji elektroniki
Artykuły
Materiały UV w produkcji elektroniki
Piątek, 15 marca 2013
Wentylatory Maxair - wysoka wydajność przy niskim poziomie hałasu
Artykuły
Wentylatory Maxair - wysoka wydajność przy niskim poziomie hałasu
Piątek, 15 marca 2013
Popularne procesory sygnałowe
Artykuły
Popularne procesory sygnałowe
Poniedziałek, 25 lutego 2013
Polecamy
Polecamy

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Cała branża elektroniki. Twoje pytania.
Poszukuję produktu lub usługi Chcę skontaktować się z firmą Mam pytanie ogólne
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów