Produkcja elektronikiPCBKomponentyZasilanieElektromechanikaKomunikacja Mikrokontrolery i IoTOptoelektronikaPomiaryProjektowanie i badania
RynekFirmyProduktyGospodarkaNowościRaportyWywiadyTechnikaOpiniePuls branżyKalendariumMagazynDla firm

Technika

STM32L: Ultra Low Power w 32-bitowym wydaniu
Artykuły

STM32L: Ultra Low Power w 32-bitowym wydaniu

HARTING har-flex oznacza jakość
Artykuły
HARTING har-flex oznacza jakość
Piątek, 22 lutego 2013
Ładowanie systemu operacyjnego w urządzeniach wbudowanych
Artykuły
Ładowanie systemu operacyjnego w urządzeniach wbudowanych
Piątek, 22 lutego 2013
Projektowanie płytek drukowanych z układami typu high-speed
Artykuły
Projektowanie płytek drukowanych z układami typu high-speed
Piątek, 22 lutego 2013
MDO4000 - oscyloskop z funkcjami oscyloskopu i analizatora widma
Artykuły
MDO4000 - oscyloskop z funkcjami oscyloskopu i analizatora widma
Piątek, 22 lutego 2013
Bezprzerwowe zasilacze - konfiguracje i właściwości
Artykuły
Bezprzerwowe zasilacze - konfiguracje i właściwości
Środa, 09 stycznia 2013
Korozja płytek drukowanych
Artykuły
Korozja płytek drukowanych
Środa, 09 stycznia 2013
Źródła napięcia odniesienia
Artykuły
Źródła napięcia odniesienia
Środa, 09 stycznia 2013
Analizator widma Rigol DSA815
Artykuły
Analizator widma Rigol DSA815
Sobota, 15 grudnia 2012
Najnowszy oscyloskop Agilenta - MSO-X 4154A
Artykuły
Najnowszy oscyloskop Agilenta - MSO-X 4154A
Czwartek, 13 grudnia 2012
Thunderbolt - nowy standard szybkiego interfejsu komunikacyjnego
Artykuły
Thunderbolt - nowy standard szybkiego interfejsu komunikacyjnego
Czwartek, 13 grudnia 2012
Littelfuse - elementy zabezpieczające w układach elektronicznych
Artykuły
Littelfuse - elementy zabezpieczające w układach elektronicznych
Czwartek, 13 grudnia 2012
Oferta STMicroelectronics i pasma ISM
Artykuły
Oferta STMicroelectronics i pasma ISM
Czwartek, 13 grudnia 2012
Optymalizacja mocy promieniowanej w mobilnych urządzeniach komunikacji bezprzewodowej
Artykuły
Optymalizacja mocy promieniowanej w mobilnych urządzeniach komunikacji bezprzewodowej
Czwartek, 13 grudnia 2012
Ograniczanie strat mocy w układach półprzewodnikowych
Artykuły
Ograniczanie strat mocy w układach półprzewodnikowych
Czwartek, 13 grudnia 2012
Wybór topologii przetwornicy DC-DC w sterownikach diod LED
Artykuły
Wybór topologii przetwornicy DC-DC w sterownikach diod LED
Czwartek, 13 grudnia 2012
Kamery termowizyjne firmy Sonel
Artykuły
Kamery termowizyjne firmy Sonel
Czwartek, 13 grudnia 2012
Jetting, czyli dozowanie bezkontaktowe
Artykuły
Jetting, czyli dozowanie bezkontaktowe
Środa, 12 grudnia 2012
Niski pobór mocy a oprogramowanie
Artykuły
Niski pobór mocy a oprogramowanie
Środa, 12 grudnia 2012
Elementy piezoelektryczne a piezorezystywne
Artykuły
Elementy piezoelektryczne a piezorezystywne
Środa, 12 grudnia 2012
Rewolucyjne open source
Artykuły
Rewolucyjne open source
Środa, 12 grudnia 2012
VST - nowość na rynku pomiarów w radiokomunikacji
Artykuły
VST - nowość na rynku pomiarów w radiokomunikacji
Czwartek, 15 listopada 2012
Polecamy
Polecamy

Zobaczyć obiekt oczami radaru, czyli dlaczego potrzebujemy laboratorium do pomiarów RCS?

Radar postrzega świat inaczej niż człowiek. Zamiast obrazu tworzonego przez światło widzialne rejestruje echo wysłanej fali elektromagnetycznej. Na odpowiedź radarową obiektu wpływają nie tylko jego rozmiary, lecz także kształt, zastosowane materiały, częstotliwość oraz kierunek obserwacji. Dlatego dwa przedmioty o podobnych wymiarach mogą być dla radaru widoczne zupełnie inaczej. Jak zatem sprawdzić, co radar rzeczywiście "widzi"? Służą temu pomiary RCS, prowadzone między innymi w specjalistycznych laboratoriach, które zapewniają kontrolowane i powtarzalne warunki oraz umożliwiają uzyskanie dokładności wymaganej w danym zastosowaniu.
Cała branża elektroniki. Twoje pytania.
Poszukuję produktu lub usługi Chcę skontaktować się z firmą Mam pytanie ogólne
Zapytania ofertowe
Unikalny branżowy system komunikacji B2B Znajdź produkty i usługi, których potrzebujesz Katalog ponad 7000 firm i 60 tys. produktów